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企业动态

英国牛津Oxford CMI95M测厚仪技术参数
发布时间:2018-03-26   点击次数:292次

英国牛津Oxford CMI95M测厚仪技术参数

一、产品特点
一秒之内测量铜箔厚度。
消除高废料和返工造成的浪费——快速地识别铜箔厚度
仅有的能测量全范围铜箔厚度的经济实用的便携式测厚仪
消除板材的磨损--新的OXFORD-95M有一个独特的软探针设计防止铜箔表面被擦伤或损毁
经久耐用,操作简单,使用方便
出厂前校准,无需标准片
低电量提醒
认证
二、技术参数:
尺寸:(W) 2.6” (66 mm) (D) 1.25” (32 mm) (H) 4.1”
范围:Oz/Ft2 1/8 1/4 3/8 1/2 1 2 3  4 μ
是一款为测试铜箔厚度设计的电池供电的手持式测厚仪
利用微电阻原理进行测试,能够在1秒之内测量印制电路板上的铜箔厚度,该厚度通过相应闪烁LED灯进行识别。
厚度范围为:5微米、9微米、12微米、17微米、35微米、70微米、105微米、140微米。

三、注意事项:

避免高昂的回收再生的成本 - 快速地鉴定特定铜箔厚度
一款行业认可的坚固易用且价格合理的手持式测厚仪,通过厚度测量分拣铜箔薄片
非破坏性检测 - 新型CMI95M配有超软接触式探针,避免铜箔表面刮伤
经久耐用,操作简单
出厂前校准,无需标准片
低电量提醒

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