Talysurf CCI三维形貌仪非接触轮廓仪 Talysurf CCI三维非接触形貌仪采用CCI干涉原理，可高精度测量表面形貌、表面粗糙度及关键尺寸，并计算关键部位的面积和体积。主要应用于数据存储器件，半导体器件，光学加工以及MEMS/MOEMS技术以及材料分析领域。

泰勒SURTRONIC DUO粗糙度仪 型号：SURTRONIC DUO 探头系统：探头系统 表面粗糙度测量范围：199μm，40μm 扫描路径：5mm 表面粗糙度分辨率：0.01μm 阈值波长：0.8 mm

Taylor Hobson英国制造 新的Surtronic®S-100系列具有多功能性，可满足大量表面测量应用的粗糙度要求。Surtronic S-128是Surtronic®S-100系列两个型号中的款。它具有一个50mm的触控笔电动机，具有直角连接和超过70mm的触针距离，即使是*挑战性的表面测量，也不需要使用昂贵的升降器，挡块，支架或固定装置。实用和

Surtronic S100 新型Surtronic S-100系列仪器能够为您的粗糙度测量需求提供多种解决方案，包括多样化的系统和应用相关配件，并且能够 针对特殊应用的配件定制工装。

Surtronic DUO 英国Taylor粗糙度仪如何工作 Surtronic Duo是便携式的 测量表面粗糙度测试仪 多个粗糙度参数与1按钮 单击。 粗糙度测量参数 例如Ra，Rz，Rp，Rv和Rt 一个明亮的直观2.4“LCD彩色显示屏。 其可充电电池操作使其成为一个 方便快捷，方便快捷 几乎的现场测量 任何环境和表面。

泰勒霍普森形状（轮廓）和表面粗糙度测量仪 强大的测量能力：表面粗糙度、轮廓和 3D 测量： » 表面细节 - 高分辨率传感器和低噪音轴能够实现粗糙度和波纹度测量。 » 轮廓 - du家**权的校准技术能够实现半径、角度、高度、长度、距离等准确测量。 » 3D - 使用可选的自动 Y 移动台和 Talymap 软件 , 能够轻松的将传统的2D测量转换为3D 测量工具。