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Surtronic S116*耐用型粗糙度测量仪泰勒经销商

  • 更新时间:2017-01-12
  • 浏览次数:680

Surtronic S116*耐用型粗糙度测量仪泰勒经销商
Surtronic S116泰勒粗糙度仪是Surtronic S100 系列的标准产品,坚固耐用,性能优越的表面粗糙度测量仪,因为体型小巧便于重量轻,所以方便携带。Surtronic S116泰勒粗糙度仪可以在任何表面, 任何高度进行测量,配备的4.3寸大尺寸触屏,容量大,显示信息一目了然,操作方便且智能, 一页上可显示多至7个参数。

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品牌TaylorHobson/英国泰勒霍普森

Surtronic S116*耐用型粗糙度测量仪泰勒经销商

 

 

Surtronic S116泰勒粗糙度仪是Surtronic S100 系列的标准产品,坚固耐用,性能优越的表面粗糙度测量仪,因为体型小巧便于重量轻,所以方便携带。Surtronic S116泰勒粗糙度仪可以在任何表面, 任何高度进行测量,配备的4.3寸大尺寸触屏,容量大,显示信息一目了然,操作方便且智能, 一页上可显示多至7个参数。包括一个50mm长的测针升降装置和直角附件,在不需要昂贵的垫块、支架或工装的情况下, 对挑战性的测量位置进行检测。 防滑的V型脚架设计使系统能够用在平滑或弯曲的平面上。 测针还能够反方向底部测量。

笃挚仪器(上海)有限公司专业代理英国泰勒Taylor Hobson粗糙度仪轮廓仪圆度仪圆柱度仪等,笃挚技术服务部与汇聚资源的合作品牌一起,以共同对计量及试验技术的专注和专业,致力于在质量检测领域,为客户提供区域化和化的广泛而的服务,确保操作和维护仪器的总体有效性和成本*化,增强您测量和检测的可靠性和性能。欢迎留言或,或进入量博网上仪器展厅浏览更多便携式粗糙度仪Surtronic DUO和Surtronic 25的详情

 

Surtronic S116泰勒粗糙度仪多样化的系统和应用相关的配件,满足您的特殊需求,大容量锂聚合物电池, 一次充电后可进行至少2000次测量,充满电后待机能力长达5000个小时。

Surtronic S116泰勒粗糙度仪,耐冲击性橡胶化塑性整个机身, 聚脂薄膜保证了触摸屏的持久耐用性,抗磨损的齿轮和轴承坚固的不锈钢驱动机构。 

 

数据显示 

显示屏每页显示7个测试结果,屏幕上可显示轮廓图(剖面图)

可以打印测试结果和图形

使用Talyprofile软件可以连接电脑,分析测试结果

数据存储

仪器可以存储100个测试数据和一个图形

仪器支持U盘zui大4G,zui多可存储39,000个图形,每批可存储10万个测试结果,共70批数据。

使用Talyprofile软件与电脑连接可以存储无限数据。

电源:

充电器 

USB接口5v 1A 110-240VAC 50/60Hz

充电时间

4小时

电池寿命

充电一次可以做2000次测试

待机时间

5000小时,由待机状态到开机测试状态,zui长时间不超过1秒I

自动关机

30秒– 6小时可以自行设置

技术指标

测量范围

200 um 100 um 10 um

分辨率

100 nm 20 nm 10 nm

底噪(Ra

250 nm 150 nm 100 nm

重复精度 (Ra)

1%测试值+底噪

传感器原

电感

测量力

50-300mg

测针针尖半径

标配5 μm (200 μin) 可选2μm(80μin)或10μm(400μin)

测试方式

滑动扫描

自动软件校准

标准:ISO4287

测试参数

三个取样长度

0.25mm、0.8mm、2.5mm

二个滤波器

2CR、Gaussian

评定长度

0.25mm - 12.5mm (0.01 in - 0.49 in)可选

zui大行程

17.5mm

测试速度

测试速度

1mm/sec(0.04 in/sec)

 

回程速度

1.5mm/sec(0.06in/sec)

执行标准

ISO 4287,ISO13565-1,ISO13565-2,ASME46.1, JIS0601, N31007

ISO标准可以测量12个参数

Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, Rpc, RSm, Rz1max

ASME标准可以测量11个参数

Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rdq, RSm, Rpm, Rda

ASME标准可以测量12个参数

Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, RSm, RzJIS, Rc, Rku, Rdc

ASME标准可以测量13个参数

R3z (Daimler Benz)

ASME标准可以测量14个参数

um/uin

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