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TAYLOR小型粗糙度仪Surtronic S116出厂原装

  • 更新时间:2017-03-01
  • 浏览次数:834

TAYLOR小型粗糙度仪Surtronic S116出厂原装
TAYLOR小型粗糙度仪Surtronic S-116属于Surtronic S100 系列产品,集先进的精密技术和低价值于一体,仪器应用广泛,测量灵活高效,可用于测量多种工件,其中包括无法接近或不易移动的工件。还可以在任何表面, 任何高度进行测量,配备的4.3寸大尺寸触屏,容量大,显示信息一目了然,方便阅读和操作。

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品牌TaylorHobson/英国泰勒霍普森

TAYLOR小型粗糙度仪Surtronic S116出厂原装

 

TAYLOR小型粗糙度仪Surtronic S-116属于Surtronic S100 系列产品,集先进的精密技术和低价值于一体,仪器应用广泛,测量灵活高效,可用于测量多种工件,其中包括无法接近或不易移动的工件。还可以在任何表面, 任何高度进行测量,配备的4.3寸大尺寸触屏,容量大,显示信息一目了然,方便阅读和操作。可在车间、检测室或实验室内对表面粗糙度进行有效的测量。

持久性:多样化的系统和应用相关的配件,满足您的特殊需求,大容量锂聚合物电池, 一次充电后可进行至少2000次测量,充满电后待机能力长达5000个小时。

坚固耐用:耐冲击性橡胶化塑性整个机身, 聚脂薄膜保证了触摸屏的持久耐用性,抗磨损的齿轮和轴承坚固的不锈钢驱动机构。 

 

 

测量范围:200 um 100 um 10 um 
分辨率:  100 nm 20 nm 10 nm 
底噪(Ra):250 nm 150 nm 100 nm 
重复精度 (Ra) :1%测试值+底噪
传感器原:电感
测量力:150-300mg
测针针尖半径:标配5 μm (200 μin) 可选2μm(80μin)或10μm(400μin)
测试参数:
三个取样长度:0.25mm、0.8mm、2.5mm
二个滤波器:2CR、Gaussian
评定长度:0.25mm - 12.5mm (0.01 in - 0.49 in)可选
zui大行程:17.5mm
执行标准:ISO 4287,ISO13565-1,ISO13565-2,ASME46.1, JIS0601, N31007
ISO标准可以测量12个参数: Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, Rpc, RSm, Rz1max
ASME标准可以测量11个参数:Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rdq, RSm, Rpm, Rda
JIS标准可以测量14个参数:Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, RSm, RzJIS, Rc, Rku, Rdc

 

笃挚仪器(上海)有限公司拥有源自美国、英国、德国等多地区的合作伙伴,凭借种类齐全的产品资源和服务,涵盖光学仪器、测量仪器、无损检测、实验仪器、分析仪器、量具量仪等各类检测设备,努力为客户解决日新月异的测量分析技术挑战,共同提供定制化精密测量和性能分析系统解决方案,有效推动企业实现既定目标。

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