Taylor Surtronic S128-技术参数详解
Surtronic S100系列取代了旧的Taylor Hobson型号Surtronic 25，Surtronic 3+和Surtronic 3P，Surtronic S100系列中的型号Surtronic S128便携式表面光洁度计为您的粗糙度测量要求提供了多功能的解决方案。功能包括大型加固显示器，长寿命电池和简单的菜单结构。

Taylor Surtronic S128-技术参数详解

笃挚仪器（上海）有限公司的产品和系统方案广泛应用于大中型国有企业、汽车制造业、精密机械、模具加工、电子电力、铸造冶金、航空航天、工程建筑、大专院校等研究实验室和生产线、质量控制和教育事业，用于评价材料、部件及结构的几何特征和理化性能，推动着精良制造技术的精益求精。

Surtronic S100系列取代了旧的Taylor Hobson型号Surtronic 25，Surtronic 3+和Surtronic 3P，Surtronic S100系列中的型号Surtronic S128便携式表面光洁度计为您的粗糙度测量要求提供了多功能的解决方案。功能包括大型加固显示器，长寿命电池和简单的菜单结构。 Surtronic可以独立使用（水平，垂直或甚至倒置的表面）或台式安装，用于分批表面粗糙度测量和实验室应用。

• 具有直角连接和超过70mm触针的50mm触控笔提升可以确保即使是挑战性的表面也可以测量，而无需昂贵的固定。防滑V形脚允许将Surtronic用于平面或曲面。
• Surtronic S100非常耐用，具有耐冲击的橡胶模制件，围绕凹陷，高耐用性的触摸屏。
• 防滑V型脚可使Surtronic粗糙度检查器在平面或曲面上使用

Talyprofile Lite软件作为标准配置，提供表面处理分析*，自动模板，图形和易于使用的桌面出版。

Taylor Surtronic S128-技术参数详解

特征：

多个表面粗糙度参数选项，以适应您的应用
坚固的显示：每页zui多7个参数加图
测量周期快
*的触控笔提升机构，具有*的灵活性
长横移长度和延长接收距离
内置存储 - 多达100组表面粗糙度测量结果以及USB端口，实现*连接
耐用的可充电电池 - 从单次充电可达2000次测量

表面处理参数适合您的应用：
Surtronic S100可以根据您的测量应用计算各种表面光洁度参数，包括：

幅度参数（测量表面偏差的垂直特性）：
Ra（算术平均偏差，以前称为CLA或AA）

Rsk（Skewness）

Rz（平均峰谷高度）

Rv（取样长度内平均线以下的zui大剖面深度）

Rt（轮廓总高度）

Rp（zui大轮廓峰高）

Rz1max（也称为Ry或Rmaz）（Max Peak to valley）

间距参数（测量表面偏差的水平特征）：
RPc（峰值计数）

RSm（轮廓元素的平均宽度）

混合参数（间距和振幅参数的组合）：

Rmr（材料比）

Rdq - R Delta q（采样长度内轮廓的均方根斜率）

上述参数涵盖了检查润滑，进料速率，应力，摩擦和磨损性能的zui常见要求。