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SURTRONIC DUO地板粗糙度测量仪

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SURTRONIC DUO地板粗糙度测量仪
型号:SURTRONIC DUO
探头系统:探头系统
表面粗糙度测量范围:199μm,40μm
扫描路径:5mm
表面粗糙度分辨率:0.01μm
阈值波长:0.8 mm

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SURTRONIC DUO地板粗糙度测量仪

 

型号:SURTRONIC DUO
探头系统:探头系统
表面粗糙度测量范围:199μm,40μm
扫描路径:5mm
表面粗糙度分辨率:0.01μm
阈值波长:0.8 mm
数据传输类型:USB

 

 

笃挚仪器代理的英国泰勒霍普森粗糙度测量装置SURTRONIC DUO,具有内部进料单元的移动粗糙度测量装置,小巧便携,通用功能,用户友好的界面,适合地板等表面粗糙度测量。

应用:
用户友好的移动粗糙度测量装置,用于参数Ra,Rz,Rp,Rv,Rt,Rz1max,R3z(戴姆勒DB N 31007),Rsk,Rq和Rku的标准粗糙度测量。

执行:
3.7“彩色液晶显示屏,zui多显示4个测量值
拆分显示和进纸单元
两台机器之间的蓝牙连接(zui大距离2米)
粗糙度参数符合DIN ISO和ASME标准
显示主要轮廓/参数Pa,Pz,Pp,Pv和Pt
集成滑盖式探头,金刚石为5μm
可以通过迷你USB端口充电

 

优点:
InstantOn,从待机模式到测量模式只需5秒钟
操作简单直观,无需培训
测量值保存到下次测量为止
电池寿命每次充电可达3000次测量

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