BYK 45℃微型光泽度仪4567
陶瓷材料，塑料薄膜和固体塑料，纸和纸板可以测量20°，60°，85°标准几何形状或45°或75°工业特定几何形状的镜面光泽度。不透明和透明的塑料薄膜和固体塑料通常在45°角度下测量中等和低光泽度。对于透过光线的薄膜，必须在样品后面放置一层如黑色的磨砂面板（如黑色磨砂面板）5015，在没有合适的背衬的情况下进行错误的测量

BYK 45℃微型光泽度仪4567

具体的材料需要特定的测量角度：

陶瓷材料，塑料薄膜和固体塑料，纸和纸板可以测量20°，60°，85°标准几何形状或45°或75°工业特定几何形状的镜面光泽度。不透明和透明的塑料薄膜和固体塑料通常在45°角度下测量中等和低光泽度。对于透过光线的薄膜，必须在样品后面放置一层如黑色的磨砂面板（如黑色磨砂面板）5015，在没有合适的背衬的情况下进行错误的测量，标准测试方法要求读数在每个样品的至少三个部分，以获得光泽均匀性的指示，微光泽的统计模式将显示平均值和范围或标准偏差作为样品均匀性的量度，陶瓷，搪瓷和其他饰面使用45 °几何形状，并通常通过测量光泽度损失来比较它们对酸，碱或其它环境因素的抵抗力。

为了评估光泽度的变化，必须在整个样品表面上进行多次读数并评估平均值以确保代表性结果ASTM C 346，D 2457，JIS Z 8741应用：陶瓷，塑料，塑料薄膜，测量范围10 - 180 GU。μ标准ISO 2813,7668 ASTM D 523，D 2457 DIN 67530 JIS Z 8 741系统要求：操作系统32位：Windows®7 SP1或8.1Microsoft®.NET Framework 4硬件：Core 2 Duo，2.2 GHz，推荐i7或等效内存：4 GB RAM，推荐8 GB硬盘容量：分钟。 300 MB显示器分辨率：1280 x 1024像素或更高接口：空闲的USB端口。

测量范围：0 - 180GU
测量面积：9 x 13毫米（0.35 x 0.5英寸）
重复性：±0.2 GU /±0.2％
重现性：±0.5 GU /±0.5％
光谱灵敏度：用于光源CIE-C的CIE标准观测器
测量时间：0.5秒/几何
厚度：
基材 - 铁：磁性，NFe：非磁性
测量范围：0 - 500Mm（0 - 20密耳）
准确度：±（1.5Mm +测量值的2％）
记忆：999日期和时间的读数
接口：USB
电源：一个1.5V AA碱性电池4,000个读数或通过USB端口