QNix8500测厚仪影响因素

• 更新时间：2020-02-19
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QNix8500测厚仪影响因素
QNix8500具备更高的用户安全和预防错误来源功能。 探头和电脑之间的无线数据传输。 高效蓄能器允许多达4000次测量，无需充电。 通过规格充电无线探头重量轻（30 g）。 无线传输范围从探头到量规到Z大 20米。 通过安全频段在范围内进行无限的无线传输 使用LED信号确认传输。 结合QN软件，可以使用PC记录和打印测量结果。

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QNix8500测厚仪影响因素

QNix8500具备更高的用户安全和预防错误来源功能。 探头和电脑之间的无线数据传输。 高效蓄能器允许多达4000次测量，无需充电。 通过规格充电无线探头重量轻（30 g）。 无线传输范围从探头到量规到zui大 20米。 通过安全频段在范围内进行无限的无线传输 使用LED信号确认传输。 结合QN软件，可以使用PC记录和打印测量结果。 选择用于各种测量范围的Dual，Fe和NFe无线探头。 该仪表作为存储设备，显示器和充电站，轻松安装在口袋中，或者可以使用QNix®简单地固定在手臂上

QNix8500测厚仪测量结果影响因素：

覆层测厚仪是一种无损检测的测厚仪，有磁力原理、磁感应原理、电涡流原理三种测厚仪，也是应用zui广泛地三种。覆层包括贴层、镀层、涂层、化学成膜等，用于保护材料的不受损坏。虽然测厚的测厚原理不同，但是测厚仪的测量精度却都是大同小异，主要有基体厚度、边界距离、曲率半径、表面粗糙度、表面清洁度、探头压力、探头方向、覆层材料中的铁磁成分和导电成分及磁场等。分析一下几种影响因素：

1）探头方向：探头的放置方式会影响测量结果，所以测量时探头与被测样品表面要保持垂直。

2）探头压力：探头放在试件上施加的压力大小会影响测量的读数。所以在测量过程中要保持施加的力不变或尽量zui小化。需要时可以在探头及被测物体之间增加具有一定厚度的绝缘硬性薄膜，然后测量结果减掉薄膜的厚度即可得到覆层厚度。

3）表面清洁度：被测试件表面要保持干净，表面的杂质、油污等都会影响测试结果。

4）基体厚度：一般情况，色差仪都会有基体金属临界厚度。即覆层测厚仪在测量时，对被测样品的薄厚会有基本的要求，给出一个基体的既定zui小厚度值（与被测样品的性质有关），能够全部将探头的磁场包裹在被测样品的金属中。如果基体厚度大于zui小厚度值则不受基体金属厚度的影响，不用修改结果；如果达不到zui小厚度值，则测量结果会有一定的偏差，需要使用同材质的物体紧贴在被测样品上再进行测量。

5）边界距离：当探头与被测样品边界、孔眼、空腔、其他截面变化出的距离小于规定的边界距离时，由于涡流载体截面不够将产生测量误差。所以，在靠近被测样品边缘或内转角处进行测量是不可靠的。如果必须测量该点的覆层厚度时，需预先在相同条件的无覆层表面进行校准。

6）表面粗糙度：粗糙的表面会导致系统误差，对于粗糙的表面应进行多点多次测量，然后取平均值以获得较客观的数据。基体金属和覆盖层的粗糙度越大，对测量结果的影响也越大，因此要使基体的平均粗糙度Ra应小于覆层厚度的5%。

7）曲率半径：被测样品的曲率半径是会影响测量结果的。曲率半径越小，误差越大，所以在弯曲表面测量厚度是不准确的。

8）磁场：对于磁性测厚方法的测厚仪，周围环境设备产生的强磁场会干扰测厚仪的测量。所以应避免在有外界磁场的环境下使用磁性法测厚仪。除了结构钢和深冲成形钢板一般不会出现这种情况。

9）覆层材料中的铁磁成分和导电成分：磁性法测厚仪会受基体金属磁性变化的影响。为了避免受到热处理和冷加工因素的影响，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对测厚仪经行校准，也可以用待涂覆试件进行校准。

以上就是覆层测厚仪测量精度的九个影响因素，当然还有其他的一些小的影响因素，这里就不一一列举了，这九个因素是比较常见的问题。

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