非接触式光学轮廓仪Taylor Hobson

• 更新时间：2019-08-01
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非接触式光学轮廓仪Taylor Hobson
CCI光学装置将强大的尺寸及粗糙度分析软件与*与伦比的工程设计融于一体，是一种非常适合用于粗糙度测量的检验工具。

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无论对分析速度的要求有多高，我们创新的CCI光学装置非接触式光学轮廓仪都能为您提供精密的3D表面测量结果。 高分辨率相机与1/10埃垂直分辨率相结合，无论是测量非常粗糙的表面，还是测量极其光滑的表面，都能获得令人不可思议的详细分析。

CCI光学装置与光学研究人员和科学家的专业知识保持与时俱进，能满足光学领域的严苛测量要求。 CCI光学装置将强大的尺寸及粗糙度分析软件与*与伦比的工程设计融于一体，是一种非常适合用于粗糙度测量的检验工具。 CCI*的薄膜厚度测量功能，进一步完善了为光学工业而设计的出色计量包装 。

  ● 2048 x 2048像素阵列，视场广，高分辨率
  ● 全量程0.1埃的分辨率
  ● 轻松测量反射率为0.3% - 100%的各种表面
  ● RMS重复精度<0.2埃，阶跃高度重复精度<0.1%
  ● 多语言版本的64位控制和分析软件

先进的光学干涉测量技术
 • 非压电陶瓷闭环Z轴扫描控制，2.2毫米扫描范围
 • 改进后的拼接功能，使Z轴量程可达100毫米
 • 1024  x  1024像素阵列可获得高分辨率的大视场
 • 增强了角度灵敏度，能够得到更好的测量数据

从实质上消除测量的不确定性
 • RMS重复性小于0.2埃，台阶高度重复性小于0.1%
  • 整个测量量程有着0.1埃分辨率
 • FEA优化机械设计，具备出色的R&R能力
 • 采用ISO标准的校准，确保结果的可信度

高性能的CCI MP是科研和制造*的测量手段。

大量程、高分辨率、高准确性和高可靠性–取得成功的四大要素
无论哪种零件、无论多快的分析速度，CCI MP均可保证三维面形测量结果的准确性。配备1/10埃垂直分辨率的一百万像素高性能摄像头，可对极为粗糙到非常光滑的所有表面进行细致全面的分析。功能丰富–可随时用于生产运营或研究项目时刻与研发人员和科学家的专业技术同步发展，CCI       MP能够满足包括太阳能、光学和医疗器械等领域提出的苛刻的测量要求。高级数据拼接功能拓展了仪器的可测量范围。

使用的简便性可减少操作员的培训成本
即便不常使用，也无需对操作员重新进行培训和指导。CCI    MP的设计便于科学家、学生、开发人员或生产检查人员使用。CCI MP的创新功能如自动量程和自动条纹寻找等，可以简化样品的调整过程。为用户节省时间、减少错误并快速得出所需结果。

完整的平台简化ISO-17025的集成
 不需要增加程序的复杂性就可使用户的分析能力得到极大提高。也不需要测量模式间进行复杂的切换，以及测量过程中校准镜头，就可以测量多种多样零件和表面。标准化的模式、程序和报告功能，使CCI MP可轻松集成到用户的质量管理系统。

笃挚仪器（上海）有限公司专业代理英国泰勒Taylor Hobson粗糙度仪、轮廓仪、圆度仪、圆柱度仪等，笃挚技术服务部与汇聚资源的合作品牌一起，以共同对计量及试验技术的专注和专业，致力于在质量检测领域，为客户提供区域化和化的广泛而的技术支持服务，确保操作和维护仪器的总体有效性和成本优化，增强您测量和检测的可靠性和性能。