非接触式光学轮廓仪CCI HD

• 更新时间：2020-04-29
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非接触式光学轮廓仪CCI HD
CCI HD 是一种非接触式光学 3D 轮廓仪，具有测量薄膜和厚膜的功能。 它采用享有**的新型关联算法，来查找由我们的精密光学扫描装置产生的干涉图的相干峰和相位。 这种新型的 CCI HD 整合了世界**的非接触式尺寸测量功能和良好的厚薄膜测量技术。

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非接触式光学轮廓仪CCI HD

良好的白光干涉仪：

     。 2.2 mm垂直范围，带闭环无压电Z轴扫描仪
     。 AutoStitch作为标准配置，可高分辨率测量大型零件
     。 2048 x 2048像素阵列用于高分辨率的大视野
     。 新型Claritas 20照明系统，角度灵敏度更高，可提高数据质量
 

提高数据质量：

     。 <0.2Åstrom RMS重复性，<0.1％台阶高度重复性
     。 FEA优化的机械设计，具有出色的R＆R功能
     。 在整个测量范围内的分辨率为0.1埃
     。 内置防振功能，可实现*佳数据质量

▶丨白光干涉仪/非接触式轮廓仪介绍：

CCI HD 是一种非接触式光学 3D 轮廓仪，具有测量薄膜和厚膜的功能。 它采用享有**的新型关联算法，来查找由我们的精密光学扫描装置产生的干涉图的相干峰和相位。 这种新型的 CCI HD 整合了世界**的非接触式尺寸测量功能和良好的厚薄膜测量技术。

CCI HD 除了提供尺寸和粗糙度测量功能，还可以提供两种类型的膜厚测量。 近年来厚膜分析被用于研究厚度至约 1.5 微米的半透明涂料；测量的厚度限制取决于材料的折射率和标的物的 NA。 测量较薄的涂层被证实为难度更高。现在通过干涉测量法可以研究厚度至 50 纳米（同样取决于折射率）的薄膜涂层。 采用这种新型方法，可以在单次测量中研究膜厚、界面粗糙度、针孔缺陷以及薄涂层表面的剥离等特性。

无限的应用可能性：

表面的三个元素对于组件的功能至关重要。 的粗糙度能力与大面积测量，良好的数据分析（2D和3D）以及泰勒·霍布森（Taylor Hobson）的专业知识相结合，可提供业界**的计量技术。 许多用户依靠CCI MP-HS解决其他仪器*无法处理的测量问题。凭借出色的量程、*高的分辨率以及操作简便的优势，成为在众多应用场合中研发和质量保证的理想工具。

笃挚仪器（上海）有限公司是德国菲希尔Fischer测厚仪，德国Elektrophysik（EPK）公司测厚仪，英国易高测厚仪，英国泰勒Taylor Hobson粗糙度仪、轮廓仪、圆度仪、圆柱度仪等的*专业经销商。历经市场洗礼和多年的拼搏积淀，笃挚仪器现已发展成为仪器仪表行业的的企业。我们对产品，不断精益求精，提供符合客户要求的物理表面检测设备，客户产业遍及石油、电力、钢铁、轨道交通、电子、半导体、航空、航天、军工、实验室、汽车…等科技产业，我们以客户的需求作为思考的出发点。经历多年来的努力, 公司人员披荆斩棘，以不懈的努力一路走来，人员，技术，服务日趋完善。