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覆层测厚仪探头minitest4100探头n10

  • 更新时间:2021-04-13
  • 浏览次数:891

覆层测厚仪探头minitest4100探头n10
minitest4100有多种探头可供选择,以覆盖广泛的应用。F型测头是根据磁感应原理设计的,主要测量钢铁基体.上的非磁性涂镀层。例如:铝、铬、铜、锌、涂料、橡胶等,也适用于合金和硬质钢。N型测头是根据电涡流原理设计的,主要测量非铁磁性金属和奥氏体不锈钢上的涂层。

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品牌ElektroPhysik/德国EPK价格区间面议
产地类别进口应用领域电子,交通,冶金,航天,汽车

覆层测厚仪探头minitest4100探头n10

N100-10mm10μm±(1%+25μm)25/100mm50mm50μmφ60x50mm

 德国ELEKTROPHYSIK minitest4100涂镀层测厚仪

Minitest1100-4100涂镀层测厚仪

MiniTest4100测厚仪适用于实验室,车间和室外使用。 连接到MiniPrint 4100便携式数据打印机后,该测厚仪可以立即记录所有读数和统计值,以备以后分析。 有多种探头可供选择,以覆盖广泛的应用。F型测头是根据磁感应原理设计的,主要测量钢铁基体.上的非磁性涂镀层。例如:铝、铬、铜、锌、涂料、橡胶等,也适用于合金和硬质钢。N型测头是根据电涡流原理设计的,主要测量非铁磁性金属和奥氏体不锈钢上的涂层。例如:铝、铜、铸锌件.上的涂料、阳极氧化膜、陶瓷等。 FN型测头是同时利用磁感应原理和电涡流原理设计的,一个测头就可完成F型和N型两种测头所能完成的测量。

MiniTest4100的存储统计及打印功能:

      ▪ MINITEST 存储的数据总量10000
      ▪ 应用行数99(根据不同探头或测试条件)
      ▪ 每个应用行下的组500(BATCH)数
      ▪ (对组内数据自动统计计算,并可设宽容度极限值)
      ▪ 读数的八种统计值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
      ▪ 组统计值八种x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
      ▪ 存储显示每一个应用行下的所有组内数据
      ▪ 分组打印以上显示和存储的数据和统计值
      ▪ 显示并打印测量值、打印的日期和时间
      ▪ 连续测量模式快速测量,通过模拟柱识别大小值
      ▪ 连续测量模式中测量稳定后显示读数
      ▪ 可设置极限值,连续测量模式中显示小值

 

德国ELEKTROPHYSIK minitest4100涂镀层测厚仪MiniTest4100的其他功能:

      ▪ 透过涂层进行校准(CTC)
      ▪ 在粗糙表面上作平均零校准
      ▪ 利用计算机进行基础校准
      ▪ 补偿一-个常数(ffset)
      ▪ 外设的读值传输存储功能
      ▪ 保护并锁定校准设置
      ▪ 更换电池是存储数值
      ▪ 仪器可以设置极限值
      ▪ 单位可公英制转换
      ▪ 浮点和定点方式数据传送

可选配件:

      ▪ MiniPrint 4100便携式数据打印机,无需电缆
      ▪ 用于打印测量值和统计数据,内置蓄电池和充电器
      ▪ 带安装装置的橡胶外壳,可防止现场机械冲击
      ▪ 仪表和打印机的保护套
      ▪ PC评估程序MSoft7000数据传输基本版
      ▪ 和MSOFT 41处理测量值,统计和直方图
      ▪ NiCd蓄电池充电器230 V
      ▪ 支持生产或小部件的测量
      ▪ 校准箔的厚度从10微米到8毫米不等

 

MiniTest 4100功能描述

MiniTest 4100根据磁感应原理工作,在有色金属基体上进行测量,它们以涡流原理工作。MiniTest 4100可以通过个人电脑进行控制,从而使其成为自动化工作场所中具有网络功能的工具。测量值和用户信息显示在大型,易于阅读的液晶显示屏上。显示背光确保在黑暗条件下轻松读取屏幕数据。有两种不同的操作模式:DIRECT模式和APPL-BATCH模式。

                DIRECT模式建议进行简单,快速,偶尔的测量。它提供统计分析和现场打印读数。单个值不会被保存。统计分析程序可以评估多达9,999个读数。

                APPL-BATCH模式允许读数在一个自由可编程存储器中进行测量和存储。可以根据各种统计标准分析*多10,000个读数和超过500个测量系列。如果在测量之前设置了限制,则可以确定cp和cpk(过程能力)值,并打印出直方图(分布图)。当连接到MiniPrint数据打印机时,压力表可以打印出所有的单个读数和六个统计值(八个输入公差极限值)和相应的直方图。

可选探头参数(探头图示)

在选择适用的探头时需要考虑覆层厚度,基体材料以及基体的形状、厚度、大小、几何尺寸等因素。
    F型探头:测量钢铁基体上的非磁性覆层 
    N型探头:测量有色金属基体上的绝缘覆层 
    N两用探头:同时具备F型和N性探头的功能

探头量程低端
分辨率
误差*小曲率
半径(凸/凹)
*小测量
区域直径
*小基
体厚度
探头尺寸
F050-500μm0.1μm±(1%+0.7μm)1/5mm3mm0.2mmφ15x62mm
F1.60-1600μm0.1μm±(1%+1μm)1.5/10mm5mm0.5mmφ15x62mm
F1.6/900-1600μm0.1μm±(1%+1μm)平面/6mm5mm0.5mmφ8x170mm
F30-3000μm0.2μm±(1%+1μm)1.5/10mm5mm0.5mmφ15x62mm
F100-10mm5μm±(1%+10μm)5/16mm20mm1mmφ25x46mm
F200-20mm10μm±(1%+10μm)10/30mm40mm2mmφ40x66mm
F500-50mm10μm±(3%+50μm)50/200mm300mm2mmφ45x70mm
N020-200μm0.1μm±(1%+0.5μm)1/10mm2mm50μmφ16x70mm
N.08Cr0-80μm0.1μm±(1%+1μm)2.5mm2mm100μmφ15x62mm
N1.60-1600μm0.1μm±(1%+1μm)1.5/10mm2mm50μmφ15x62mm
N1.6/900-1600μm0.1μm±(1%+1μm)平面/10mm5mm50μmφ13x170mm
N100-10mm10μm±(1%+25μm)25/100mm50mm50μmφ60x50mm
N200-20mm10μm±(1%+50μm)25/100mm70mm50μmφ65x75mm
N1000-100mm100μm±(1%+0.3mm)100mm/平面200mm50μmφ126x155mm
CN0210-200μm0.2μm±(1%+1μm)平面7mm无限制φ17x80mm
FN1.60-1600μm0.1μm±(1%+1μm)1.5/10mm5mmF:0.5mm
N:50μm
φ15x62mm
FN1.6P0-1600μm0.1μm±(1%+1μm)平面30mmF:0.5mm
N:50μm
φ21x89mm
FN20-2000μm0.2μm±(1%+1μm)1.5/10mm5mmF:0.5mm
N:50μm
φ15x62mm

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