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德国Mahr马尔MARSURF PS1小型粗糙度仪

  • 更新时间:2020-04-09
  • 浏览次数:721

MarSurf PS1 是在加工现场使用的便携式粗糙度测量仪
它的Z大测量范围为 350 µm(0.014 in)(-200 µm 至 +150 µm)(-0.008 in 至 +0.006 in)。利用该仪器内置的驱动单元无需重新进行设置即可进行测量。它的Z大扫描长度为 17.5 mm(0.700 in)。该仪器使用方便并且符合DIN EN ISO 3274标准 的规定。

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品牌Mahr/德国马尔产地类别进口
应用领域电子,交通,冶金,航天,汽车

德国Mahr马尔MARSURF PS1小型粗糙度仪

表面粗糙度仪的测量结果可以用Ra,Rz或Tp表示,这些结果包括被测表面峰顶到谷底的距离,峰顶频率评估。

重量轻,便于携带,用于测量表面粗糙度,符合标准。

该仪器适用于不同工业领域中测量表面粗糙度,特别是当样品过大不宜在实验室中测量的情况。
多语言显示:屏幕上显示所有信息,有14种语言可选
灵活性: 可在任何角度测量,水平、垂直、倒置,随货提供适合各种样品符合标准的高度调节装置。
整体式校准标准:无需外部校准标准,使用更加方便。
驱动装置:装置可旋转也可纵向移 动,带动针尖传感器到校准位置,同时针尖传感器处于校准位置,在运输过程 可得到保护。
带有移动保护功能的针尖传感器:2μm金刚石针尖,测量力度0.75mN,根据不同需要配置不同针尖。
如何使用表面粗糙度测试仪
 
德国Mahr马尔MARSURF PS1小型粗糙度仪
含触针的表面粗糙测试仪,触针在表面上机械移动,记录预定义样品长度内表面粗糙度"图像"。
测量技术提供了大量的测量参数,包括:
 
Rmax: 取样长度内,zui高峰顶与zui低谷底之间的zui大距离
Ra: 取样长度内的平均粗糙度
Rt: 给定取样长度内,zui高峰顶与zui低谷底之间的距离。
Rz: 多种取样长度内,zui高峰顶与zui低谷底之间的平均距离

MarSurf PS1 是在加工现场使用的便携式粗糙度测量仪
它的zui大测量范围为 350 µm(0.014 in)(-200 µm 至 +150 µm)(-0.008 in 至 +0.006 in)。利用该仪器内置的驱动单元无需重新进行设置即可进行测量。它的zui大扫描长度为 17.5 mm(0.700 in)。该仪器使用方便并且符合DIN EN ISO 3274标准 的规定。
MarSurf PS1以及Mahr探头在出厂时已经过校准。对于采用探针法和后续检查的高精度测量,可使用自动动态标定功能。为此,MarSurf PS1 仪器预置了此功能。PHT 探头有一个*的活动导块 ,可以有效地清除沉积的灰尘和油渍。
 弓型垂直调节器 1 适用于多种外形的工件的粗糙度测量(例如,用于圆柱形被测件,与探头保护体组合使用的固定式三点支承、四点支承等),并且可以方便地进行高度调节。
MarSurf PS1由于采用坚固耐用的外壳,MarSurf PS1 可在恶劣的环境下工作。该仪器的操作单元根据人体工程学设计,安排合理、一目了然,特制的液晶显示屏清晰易读。
 MarSurf PS1 体积小、重量轻(约 400 g / 0.88 lbs),是理想的便携式仪器。由于采用了配有背带和袢带的便携式仪器箱设计,使得仪器可以随身携带。其内置的充电电池能提供几天工作的电能 。

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