Mahr马尔Perthometer S2粗糙度仪一级供应代理

• 更新时间：2017-01-17
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Mahr马尔Perthometer S2粗糙度仪一级供应代理
笃挚仪器（上海）有限公司的产品和系统方案广泛应用于大中型国有企业、汽车制造业、精密机械、模具加工、电子电力、铸造冶金、航空航天、工程建筑、大专院校等研究实验室和生产线、质量控制和教育事业，用于评价材料、部件及结构的几何特征和理化性能，推动着先进制造技术的精益求精。

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Mahr马尔Perthometer S2粗糙度仪一级供应代理
笃挚仪器（上海）有限公司的产品和系统方案广泛应用于大中型国有企业、汽车制造业、精密机械、模具加工、电子电力、铸造冶金、航空航天、工程建筑、大专院校等研究实验室和生产线、质量控制和教育事业，用于评价材料、部件及结构的几何特征和理化性能，推动着先进制造技术的精益求精。

Perthometer S2粗糙度仪技术参数：
测量原理   探针接触测量法
测量范围
范围/分辨率  ± 25 μm/0.8 nm
(± 1,000 μin/.032 μin)
± 250 μm/8 nm
(± 10,000 μin,/.315 μin)
± 2,500 μm/80 nm
(± 100,000 μin/3.15 μin)
65,536 步长/垂直范围
11,200 测量点/标准扫瞄长度
标准  DIN EN ISO/JIS/ASME 46.B
轮廓类型  R, D, P, W (轮廓可例转) 
垂直方向缩放比例 0.1 μm/div. 至 5,000 μm/div.  或自动
 (3.937 μin/div. 至 .197 in/div.) 
水平方向缩放比例 1 μm/div. 至 5,000 μm/div.  或自动
用于评定长度轮廓   (39.370 μin/div. 至 .197 in/div.) 
图形 lm 0.40/1.25/4.00/12.50/40.00 mm
(.015/.049/.157/.492/1.575 in)
扫瞄长度 Lt 0.56/1.75/5.6/17.5/56.00 mm
(.022/.070/.224/.700/2.240 in)
扫瞄长度 1/2/4/8/12/16  mm
(MOTIF)  (.040/.080/.160/.320/.480/.640 in)
特殊扫瞄长度 0.56 至 120.00 mm, 可调
(.022 in 至 4.724 in)
取样长度个数 1 至 5, 可选
滤波器 (根据 ISO/JIS)  相位滤波器 (高斯滤波器), 按照
DIN EN ISO 11562 标准
特殊滤波器  按照 DIN EN ISO 13565-1, 1997;
lc/ls 按照 ISO 3274, ARC 功能
截止波长 lc 0.08/0.25/0.8/2.5/8 mm
(.003/.010/.032/.100/.320 in)
短截止波长 lc/可选   有
参数  Ra, Rq; Rz, Rt, Rp, Rv, RSm, Rdq, 
(带有公差极限)  Rsk, Rku, Rdc, Rmr, Pmr, Pt, Wt, Pdc
(DIN EN ISO 4287), Wa, HSC, Wg, WSm,
Rz1max, Rmax (DIN 4288),
Rpk, Rk, Rvk, Mr1, Mr2, Pdc, A1, A2
(DIN EN ISO 13565)
Rpmax, Rvmax, Rpc (prEN 10049), R, Ar,
W, Aw, Rx, , Wte, Nr, Ncrx, Nw, CP
(ISO 12085), R3z (DBN 31007), RzJ, S
(JIS B 601)

Perthometer S2粗糙度仪特点介绍：
• 依照现行标准可实现粗糙度和波度测量
  (DIN EN ISO 3274, 例如: 带通滤波器)
• 重量轻 (不包括内置充电电池)
• 高分辨率的图形显示, 可清晰显示测量结果和轮廓
• 基于自动测量原理和多测量元素, 使得操作更简单
• 通过内置热敏打印机, 快速打印测量记录
• PCMCIA 存储卡可存储测量程序、测量结果和轮廓
• S2Prog 扩展程序, 可简单地建立测量程序
• 通过 PCMCIA 记忆于进行软件升级
• SPC 接口可实现 S2 与生产程序连接
• RS 232 接口可实现数据传输和远程控制

笃挚仪器（上海）有限公司
：朱盛
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公司地址：上海市浦东新区外高桥保税区华京路418号