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Perthometer M2粗糙度仪通用标准及辅助工具

  • 更新时间:2017-04-11
  • 浏览次数:672

Perthometer M2粗糙度仪通用标准及辅助工具
该仪器是通用标准仪器。高移动性,高性能表面粗糙度单位,该仪器的操作基于经过验证的功能目录,可以非常容易地选择测量条件,语言和记录内容等仪器设置。 因此,Perthometer M2提供了Z大的舒适性和灵活性。

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品牌Mahr/德国马尔

Perthometer M2粗糙度仪通用标准及辅助工具

 

该仪器是通用标准仪器。高移动性,高性能表面粗糙度单位,该仪器的操作基于经过验证的功能目录,可以非常容易地选择测量条件,语言和记录内容等仪器设置。 因此,Perthometer M2提供了zui大的舒适性和灵活性。

我们的应用有助于在M1或M2系列中使用评估仪器。 校准或储存站包含在交货范围内。 可以使用校准标准,如果需要,可使用校准证书。

 

特殊设计允许测量仪器的,轻松的定位

即使没有专业的计量知识,易于使用

用于保护驱动单元免受可能破坏测量的环境影响的设备

拾取保护,即检测仅在测量期间延长

表面 保护材料确保测量不会在工件上留下痕迹
 

●测量范围可达150μm(6000μin)
●单位μm/μin可选
●标准:可选择SIN / ISO / JIS和CNOMO(Motif)
●根据DIN EN ISO 4288 / ASME B461的运行长度:1.75mm,5.6mm,17.5mm(.07in,.22in,.7in);根据EN ISO 12085:1mm,2mm,4mm,8mm,12mm,16mm
●采样长度可选择1到5
●自动选择符合标准的过滤器和运行长度
●根据DIN EN ISO 11562的相位校正型材过滤器
●截止0.25mm / 0.80mm / 2.50mm(.010in / .032in。/ 100in)
●可以选择短切断
根据DIN / ISO / SEP的参数:Ra,Rz,Rmax,Rp,Rq,Rt,R3z,Rk,Rvk,Rpk,Mr1,Mr2,Mr,Sm,RPc,按照JIS:Ra,Rz,Ry, Sm,S,tp;主题参数:R,Rx,Ar,W,CR,CF,CL(三区测量)
●显示和测量记录中的容差监控
●自动或可调缩放
●印刷R型材(ISO / JIS),P型材(MOTIF),材料比例曲线,测量记录
●测量的输出日期和/或时间
●集成内存,zui多可达200??次测量
●动态拾音校准
●阻止仪器设置,防止意外修改以及密码保护的可能性

 

坚固的制造环境需要快速简便的粗糙度测量。 车间对测量仪器特别苛刻。 Mahr的应用辅助工具是*的解决方案

辅助工具:

 

笃挚仪器为您提供种类规格齐全的便携式物理测量仪器,这些产品来自世界厂商,使用的原材料制造,采用先进的技术,以满足质量标准。我们的产品由于其优异的性能,高效率,更高的耐用性和成本效益以及的功能得到了客户的巨大赞誉。笃挚仪器为您提供市场的价格和的服务,欢迎比价询价!

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