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Perthometer M2粗糙度仪真品

  • 更新时间:2017-05-10
  • 浏览次数:605

Perthometer M2粗糙度仪真品
Perthometer M2与Perthometer M1对比,此设备不仅能满足测量的需要和测量参数的存档要求,还能使大多数的测量参数和特性曲线*根据DIN/ISO/JIS标准的要求哦进行轮廓评定。
更多的,MarSurf M2 提供了内置的存储器,可用于存储高达200组测量结果和实现公差监测,垂直显示比例的调整,用于计算粗糙度峰顶数使用的不对

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品牌Mahr/德国马尔

Perthometer M2粗糙度仪真品

 

仪器功能特征:

可显示公差及输出测量报告中
显示比例可自动或手动选择
测量报告可输出测量日期及时间
内置存储卡可存储200组测量数据
动态传感器校准
锁定功能可避免仪器参数被意外修改并能设置任意密码保护

可打印R-轮廓(ISO/JIS), P-轮廓(Motif), 材料率曲线, 等测量报告

应用
轴类, 外壳, 大体积的机械机架
汽车业应用, 如凸轮轴和曲轴测量和/或其他需要横向测量的位置
可在生产线上使用,实现固定架构中任何部件的快速线上实时测量
测量工作站组件

配件:
MarSurf M 2便携式粗糙度仪由坚固的测量工具箱保护, 里面包含:
M2评定单元
PFM 驱动器
NHT 6-100 传感器
通用 90-264 V电源适配器

参数:

测量范围高达150 μm (6000 μin)

测量单位 μm/μin 可选

评定标准: DIN/ISO/JIS 和CNOMO (Motif) 可选

依照 DIN EN ISO 4288/ASME B461标准的测量长度选择: 1,75 mm; 5,6 mm; 17,5 mm (0,07 in; 0,22 in; 0,7 in);依照 EN ISO 12085标准: 1 mm; 2 mm; 4 mm; 8 mm; 12 mm; 16 mm

截止波长可从 1 至5自由选择

*依照标准的测量波长及测量长度自动选择

依照 DIN EN ISO 11562 标准的相位修正轮廓滤波器

可选择截止波长有0,25 mm/0,8 mm/2,5 mm (0,01 in/0,032 in/0,100 in)

可选择短截止波长

依照DIN/ISO/SEP标准的评定参数: Ra, Rz, Rmax, Rp, Rq, Rt, R3z, Rk, Rvk, Rpk, Mr1, Mr2, Mr, Sm, RPc; 依照 JIS标准的评定参数: Ra, Rz, Ry, Sm, S, tp; Motif 标准的评定参数: R, Rx, Ar, W, CR, CF, CL (3-区域测量)

 

 

Perthometer M2的测量原理为指针电感触方式,操作语言有 10种欧洲语言和其它2种亚洲语言,也有中文操作界面。避免了语言不通的困扰,带有RS232串行口,可直接与pc相连方便传输数据,以便对数据进行进一步的处理。公差和测量数据显示跟踪,输出测量日期和时间.,集成存储器能够zui多存储200个测量结果,可在PCMCIA内存卡上存储无数个测量结果,轮廓和测量程序。

Perthometer M2与Perthometer M1对比,此设备不仅能满足测量的需要和测量参数的存档要求,还能使大多数的测量参数和特性曲线*根据DIN/ISO/JIS标准的要求哦进行轮廓评定。
更多的,MarSurf M2 提供了内置的存储器,可用于存储高达200组测量结果和实现公差监测,垂直显示比例的调整,用于计算粗糙度峰顶数使用的不对称截止线设置。

 

Perthometer M2粗糙度仪真品

 

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