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高移动性粗糙度仪MAHR PERTHOMETER M2

  • 更新时间:2017-07-03
  • 浏览次数:972

高移动性粗糙度仪MAHR PERTHOMETER M2
与Perthometer M1相比,该仪器不仅满足了所选参数的确定和记录要求,而且还使得DIN / ISO / JIS规定的大部分参数和特性曲线可用于评估轮廓的评估。
此外,Perthometer M2提供了一个集成的存储器,用于多达200个测量结果,并能够实现容差监测,垂直刻度选择以及用于峰值计算计算的不对称交叉线的设置。

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品牌Mahr/德国马尔

高移动性粗糙度仪MAHR PERTHOMETER M2

 

MAHR PERTHOMETER M2 

The Universal Standard Instrument ..  

Highly , high-performance surface roughness unit 

通用标准仪器

高移动性,高性能表面粗糙度单位

 

典型特征 :
●测量范围可达150μm(6000μin)
●单位μm/μin可选
●标准:可选择SIN / ISO / JIS和CNOMO(Motif)
●根据DIN EN ISO 4288 / ASME B461的运行长度:1.75mm,5.6mm 17.5mm(.07in,.22in,.7in);根据EN ISO 12085:1mm,2mm,4mm,8mm,12mm,16mm
●采样长度可选择1到5
●自动选择符合标准的过滤器和运行长度
●根据DIN EN ISO 11562的相位校正型材过滤器
●截止0.25mm / 0.80mm / 2.50mm(.010in / .032in。/ 100in)
●可切断短路
根据DIN / ISO / SEP的参数:Ra,Rz,Rmax,Rp,Rq,Rt,R3z,Rk,Rvk,Rpk,Mr1,Mr2,Mr,Sm,RPc,按照JIS:Ra,Rz,Ry, Sm,S,tp;主题参数:R,Rx,Ar,W,CR,CF,CL(三区测量)
●显示和测量记录中的容差监控
●自动或可调缩放
●印刷R型材(ISO / JIS),P型材(MOTIF),材料比例曲线,测量记录
●测量的输出日期和/或时间
●集成内存,zui多可达200​​次测量
●动态拾音校准
●阻止仪器设置,防止意外修改以及密码保护的可能性

 
产品描述:

  • 该仪器的操作基于经过验证的功能目录,可以非常容易地选择诸如测量条件,语言和记录内容等仪器设置。因此,Perthometer M2提供了zui大的舒适性和灵活性。
  • 与Perthometer M1相比,该仪器不仅满足了所选参数的确定和记录要求,而且还使得DIN / ISO / JIS规定的大部分参数和特性曲线可用于评估轮廓的评估。
  • 此外,Perthometer M2提供了一个集成的存储器,用于多达200个测量结果,并能够实现容差监测,垂直刻度选择以及用于峰值计算计算的不对称交叉线的设置。

 

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