高移动性粗糙度仪MAHR PERTHOMETER M2

• 更新时间：2017-07-03
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高移动性粗糙度仪MAHR PERTHOMETER M2
与Perthometer M1相比，该仪器不仅满足了所选参数的确定和记录要求，而且还使得DIN / ISO / JIS规定的大部分参数和特性曲线可用于评估轮廓的评估。
此外，Perthometer M2提供了一个集成的存储器，用于多达200个测量结果，并能够实现容差监测，垂直刻度选择以及用于峰值计算计算的不对称交叉线的设置。

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高移动性粗糙度仪MAHR PERTHOMETER M2

MAHR PERTHOMETER M2 

The Universal Standard Instrument ..  

Highly , high-performance surface roughness unit 

通用标准仪器

高移动性，高性能表面粗糙度单位

典型特征 ：
●测量范围可达150μm（6000μin）
●单位μm/μin可选
●标准：可选择SIN / ISO / JIS和CNOMO（Motif）
●根据DIN EN ISO 4288 / ASME B461的运行长度：1.75mm，5.6mm 17.5mm（.07in，.22in，.7in）;根据EN ISO 12085：1mm，2mm，4mm，8mm，12mm，16mm
●采样长度可选择1到5
●自动选择符合标准的过滤器和运行长度
●根据DIN EN ISO 11562的相位校正型材过滤器
●截止0.25mm / 0.80mm / 2.50mm（.010in / .032in。/ 100in）
●可切断短路
根据DIN / ISO / SEP的参数：Ra，Rz，Rmax，Rp，Rq，Rt，R3z，Rk，Rvk，Rpk，Mr1，Mr2，Mr，Sm，RPc，按照JIS：Ra，Rz，Ry， Sm，S，tp;主题参数：R，Rx，Ar，W，CR，CF，CL（三区测量）
●显示和测量记录中的容差监控
●自动或可调缩放
●印刷R型材（ISO / JIS），P型材（MOTIF），材料比例曲线，测量记录
●测量的输出日期和/或时间
●集成内存，zui多可达200​​次测量
●动态拾音校准
●阻止仪器设置，防止意外修改以及密码保护的可能性
 
产品描述：

• 该仪器的操作基于经过验证的功能目录，可以非常容易地选择诸如测量条件，语言和记录内容等仪器设置。因此，Perthometer M2提供了zui大的舒适性和灵活性。
• 与Perthometer M1相比，该仪器不仅满足了所选参数的确定和记录要求，而且还使得DIN / ISO / JIS规定的大部分参数和特性曲线可用于评估轮廓的评估。
• 此外，Perthometer M2提供了一个集成的存储器，用于多达200个测量结果，并能够实现容差监测，垂直刻度选择以及用于峰值计算计算的不对称交叉线的设置。

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