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QNix4200磁性基体测厚仪

QNix4200磁性基体测厚仪
钢铁基材: 用于4200
测量范围: 0-3000um
测量精度: +/- 1um或+/- 3%读数)
Z小测量面积: 10x10mm
Z小曲率: 凸半径 5mm
凹半径 25mm
Z小基材厚度:0.2mm

  • 产品型号:
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2018-05-29
  • 访  问  量:1649
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产品详情

QNix4200磁性基体测厚仪

 

Coating thickness measuring systems
by Automation Dr. Nix

QNix® 4200 –
for measurements on Fe substrate

QNix® 4200 measures on Fe substrate of up to 5,000 µm and offers all advantages of the QNix® 4500.

 

 测量范围集成探头电缆探头
QNix® 4500Fe 0 - 3.000 µm
NFe 0 - 3.000 µm
QNix® 4500Fe 0 - 5.000 µm
NFe 0 - 3.000 µm
QNix® 4200Fe 0 - 5.000 µm
QNix® 4200Fe 0 - 3.000 µm
  • 塑料箱运输和储存

QNix® 4500 - 带集成探头QNix® 4500 - 带电缆探头QNix® 4200 - 带集成探头QNix® 4200 - 带电缆探头
 

QNix4200技术参数

磁性基体(Fe模式)

可以

非磁性基体(NFe模式)

不可以

测量范围

Fe:0-3000um

显示精度

0.1um

精度

0-50um:≤±1um

50-1000um:≤±1.5%读数

1000-3000um≤±3%读数

zui小接触面

10×10mm/QNix4200

zui小曲率半径

凸面:3mm;凹面:25mm

zui小基体厚度

Fe:0.2mm/NFe:0.05mm

温度补偿范围

0-60℃

显示

LCD液晶(带背光)

探头

红宝石固定式

电源

2×1.5V干电池

尺寸

100×60×27mm

重量

110g

 

钢铁基材: 用于4200
测量范围: 0-3000um
测量精度: +/- 1um或+/- 3%读数)
zui小测量面积: 10x10mm
zui小曲率: 凸半径 5mm
凹半径 25mm
zui小基材厚度:0.2mm
温度范围: 0-60度
显示: LCD
供电形式: 2个1.5V电池
体积: 100X60X27mm
重量: 约110克

 

 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 

 

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