Taylor Hobson Surtronic S-116粗糙度仪

• 更新时间：2020-02-20
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Taylor Hobson Surtronic S-116粗糙度仪系列有两种型号可供选择：SURTRONIC S116 粗糙度仪是标准产品，S128则能够提供提高测量范围和分析能力。它可测量各种加工表面，包括：油泵油嘴、曲轴、凸轮轴、缸体缸盖的配合面、缸套、缸孔、活塞孔等的表面粗糙度。同时也可应用于PS版测量、在线检测机床的

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   Taylor Hobson Surtronic S-116粗糙度仪

能够为您的粗糙度测量需求提供多种解决方案， 包括多样化的系统和应用相关的配件， 并且能够为您的特殊需求定制工装。耐冲击性橡胶化塑性整个机身， 聚脂薄膜保证了触摸屏的持久耐用性，抗磨损的齿轮和轴承坚固的不锈钢驱动机构。 大容量锂聚合物电池， 一次充电后可进行至少2000次测量。即开即用能够让仪器在待机状态下1秒即可启用测量， 充满电后待机能力长达5000个小时。任何表面，任何高度。包括一个50mm长的测针升降装置和直角附件，以及深达70mm的测量能力， 在不需要昂贵的垫块、支架或工装的情况下， 对具挑战性的测量位置进行检测。 防滑的V型脚架设计使系统能够用在平滑或弯曲的平面上。 测针还能够反方向底部测量。像其它导航或智能手机一样， 拥有4.3寸大尺寸触屏， 易读性强。 一页上可显示多至7个参数。可将屏幕旋转四个方向。 轻触快捷键即可进行所有关键设置。A类型USB 2.0可连接便携式打印机或USB存储设备。 迷你USB 2.0用于充电或连接电脑传输数据。

  泰勒•霍普森Taylor Hobson有限公司专业从事超高精度表面及其轮廓形状测量，是优越的圆度/圆柱度仪、表面粗糙度轮廓仪、白光干涉表面轮廓仪及超精单点金刚石车床等设备的供应商，总部位于英国莱斯特市，我们提供接触与非接触测量方法以满足多种应用需求，公司产品广泛应用于现代制造业及新兴产业，如半导体、硬盘、精密光学、微纳米学等。

一、S116标准配置:显示单元;112-1502标准测针;测针连接线;多刻线样板;测针提升机构;USB接口充电器;使用手册;USB通讯电缆;仪器箱

二、技术参数数据显示 ：显示屏每页显示7个测试结果，屏幕上可显示轮廓图（剖面图）可以打印测试结果和图形使用Talyprofile软件可以连接电脑，分析测试结果

三、数据存储：仪器可以存储100个测试数据和一个图形仪器支持U盘大4G，多可存储39,000个图形，每批可存储10万个测试结果，共70批数据。使用Talyprofile软件与电脑连接可以存储无限数据。

四、电源：充电时间：4小时，电池寿命：充电一次可以做2000次测试，待机时间：5000小时由待机状态到开机测试状态，长时间不超过1秒I，自动关机：30秒– 6小时可以自行设置

五、技术指标：测量范围：200 um 100 um 10 um 分辨率：  100 nm 20 nm 10 nm 底噪(Ra)：250 nm 150 nm 100 nm 重复精度 (Ra) ：1%测试值+底噪 传感器原：电感 测量力：150-300mg 测针针尖半径：标配5 μm (200 μin) 可选2μm(80μin)或10μm(400μin) 测试方式：滑动扫描 校准：自动软件校准 标准：ISO4287

六、测试参数：三个取样长度：0.25mm、0.8mm、2.5mm二个滤波器：2CR、Gaussian评定长度：0.25mm - 12.5mm (0.01 in - 0.49 in)可选大行程：17.5mm测试速度：1mm/sec(0.04 in/sec)回程速度：1.5mm/sec(0.06in/sec)执行标准：ISO 4287,ISO13565-1,ISO13565-2,ASME46.1, JIS0601, N31007 ISO标准可以测量12个参数： Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, Rpc, RSm, Rz1max，ASME标准可以测量11个参数：Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rdq, RSm, Rpm, Rda，JIS标准可以测量14个参数：Ra, Rv, Rp, Rz, Rt, Rq, Rsk, Rmr, Rdq, RSm, RzJIS, Rc, Rku, Rdc，其他 ：R3z (Daimler Benz)，测试单位：um/uin

七、可选附件测试平台：00级大理石平板：400X250X70mm，有效高度：280mm。可调Y轴V型铁，可调范围：±5mm，V型铁长度100mm