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产品中心

品牌 | TaylorHobson/英国泰勒霍普森 | 价格区间 | 面议 |
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产品种类 | 非接触式轮廓仪/粗糙度仪 | 产地类别 | 进口 |
应用领域 | 电子,交通,冶金,航天,汽车 |
非接触式白光干涉轮廓仪
CCIMP
结构紧凑的高新能白光干涉仪
无论对分析速度的要求有多高,我们创新的CCI光学装置非接触式光学轮廓仪都能为您提供精密的3D表面测量结果。 高分辨率相机与1/10埃垂直分辨率相结合,无论是测量非常粗糙的表面,还是测量非常光滑的表面,都能获得令人不可思议的详细分析。
CCI光学装置与光学研究人员和科学家的专业知识保持与时俱进,能满足光学领域的严苛测量要求。 CCI光学装置将强大的尺寸及粗糙度分析软件与*与伦比的工程设计融于一体,是一种非常适合用于粗糙度测量的检验工具。 CCI特别的薄膜厚度测量功能,进一步完善了为光学工业而设计的出色计量包装 。
▪ 2048 x 2048像素阵列,视场广,高分辨率
▪ 全量程0.1埃的分辨率
▪ 轻松测量反射率为0.3% - 100%的各种表面
▪ RMS重复精度<0.2埃,阶跃高度重复精度<0.1%
▪ 多语言版本的64位控制和分析软件
良好的光学干涉测量技术
• 非压电陶瓷闭环Z轴扫描控制,2.2毫米扫描范围
• 改进后的拼接功能,使Z轴量程可达100毫米
• 1024 x 1024像素阵列可获得高分辨率的大视场
• 增强了角度灵敏度,能够得到更好的测量数据
从实质上消除测量的不确定性
• RMS重复性小于0.2埃,台阶高度重复性小于0.1%
• 整个测量量程有着0.1埃分辨率
• FEA优化机械设计,具备出色的R&R能力
• 采用ISO标准的校准,确保结果的可信度
追求长期成本效益的坚固耐用设计
• 非压电Z轴扫描控制可省去昂贵的维修费用
• 自动表面检测可防止撞坏镜头
• 内置自我诊断工具可快速、轻松地排除故障
• 操作的简便性可减少使用者出错可能
64位控制和分析软件
• 包括中文、日文在内的多语种支持
• 兼容大多数计算机平台,有利于开展合作性研究项目
• 提供多种新工具,包括3D表面随时间演变过程中进行4D分析
• 根据多批次测量数据自动生成报告
非接触式白光干涉轮廓仪无限的应用可能性
许多用户依靠CCI MP解决其他仪器*无法处理的测量问题。凭借出色的量程、非常高的分辨率以及操作简便的优势,成为在众多应用场合中研发和质量保证的理想工具。
▪ 材料研究
| ▪ 医疗植入物
| ▪ SIMS凹面 |