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非接触式白光干涉轮廓仪

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非接触式白光干涉轮廓仪
无论对分析速度的要求有多高,我们创新的CCI光学装置非接触式光学轮廓仪都能为您提供精密的3D表面测量结果。 高分辨率相机与1/10埃垂直分辨率相结合,无论是测量非常粗糙的表面,还是测量非常光滑的表面,都能获得令人不可思议的详细分析

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 非接触式白光干涉轮廓仪

CCIMP

结构紧凑的高新能白光干涉仪

无论对分析速度的要求有多高,我们创新的CCI光学装置非接触式光学轮廓仪都能为您提供精密的3D表面测量结果。 高分辨率相机与1/10埃垂直分辨率相结合,无论是测量非常粗糙的表面,还是测量非常光滑的表面,都能获得令人不可思议的详细分析。

        CCI光学装置与光学研究人员和科学家的专业知识保持与时俱进,能满足光学领域的严苛测量要求。 CCI光学装置将强大的尺寸及粗糙度分析软件与*与伦比的工程设计融于一体,是一种非常适合用于粗糙度测量的检验工具。 CCI特别的薄膜厚度测量功能,进一步完善了为光学工业而设计的出色计量包装 。

▪    2048 x 2048像素阵列,视场广,高分辨率
▪    全量程0.1埃的分辨率
▪    轻松测量反射率为0.3% - 100%的各种表面
▪    RMS重复精度<0.2埃,阶跃高度重复精度<0.1%
▪    多语言版本的64位控制和分析软件

先进的光学干涉测量技术

 •     非压电陶瓷闭环Z轴扫描控制,2.2毫米扫描范围
 •     改进后的拼接功能,使Z轴量程可达100毫米
 •     1024  x  1024像素阵列可获得高分辨率的大视场
 •     增强了角度灵敏度,能够得到更好的测量数据

从实质上消除测量的不确定性

 •     RMS重复性小于0.2埃,台阶高度重复性小于0.1%
 •     整个测量量程有着0.1埃分辨率
 •     FEA优化机械设计,具备出色的R&R能力
 •     采用ISO标准的校准,确保结果的可信度

追求长期成本效益的坚固耐用设计

 •     非压电Z轴扫描控制可省去昂贵的维修费用
 •     自动表面检测可防止撞坏镜头
 •     内置自我诊断工具可快速、轻松地排除故障
 •     操作的简便性可减少使用者出错可能

64位控制和分析软件

 •     包括中文、日文在内的多语种支持
 •     兼容大多数计算机平台,有利于开展合作性研究项目
 •     提供多种新工具,包括3D表面随时间演变过程中进行4D分析
 •     根据多批次测量数据自动生成报告

 

非接触式白光干涉轮廓仪无限的应用可能性

许多用户依靠CCI MP解决其他仪器完全无法处理的测量问题。凭借出色的量程、非常高的分辨率以及操作简便的优势,成为在众多应用场合中研发和质量保证的理想工具。

▪    材料研究
▪    轴承粗糙度
▪    抛光光学器件
▪    织纹钢
▪    金刚石车削
▪    汽车喷油器.
▪    表面结构

 

▪    医疗植入物
▪    密封面
▪    曲轴加工
▪    储油率(轴承)
▪    纸/碳粉
▪    手机专用耳机
▪    牙齿磨损

 

▪    SIMS凹面
▪    晶圆粗糙度
▪    晶圆蚀刻深度
▪    太阳能电池
▪    LED
▪    MEMS
▪    数据存储

 

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