X-RAY XUL/XULM电镀或电子元件镀层测厚仪 在电镀或电子元件生产过程中需要快速且准确地测定镀层厚度时，XUL® 系列测量仪器是您的*选解决方案。X 射线荧光仪器可自下而上进行测量，能够在测量台上对样品进行轻松定位。该系列的所有 X 射线仪器均配备相同的探测器。您可以根据自己的测量需求选择不同的准直器、滤波器以及 X 射线管。

费希尔膜厚仪代理商（Fischer） 德国fischer公司生产DUALSCOPE® MP0R涂层测厚仪是一款为快速且简便测量而设计的测厚仪。mpor涂层测厚仪这一款经济型的测厚仪可以准确地和方便地在2个液晶显示器上显示镀层

isoscope fmp30涡流法测厚仪上海代理 经得起考验的ISOSCPOPE?FMP30手提式仪器适合于需要一款独立的电涡仪器带全部测量数据存储，输出和打印功能的使用者。ISOSCOPE?MP30能存储多达100个应用程式中1,000个数据组中的10,000个测量数据。

MPO/DualScope MP0测厚仪小尺寸高性能 袖珍尺寸的仪器，用于几乎所有金属或钢/铁上的简单，快速和无损涂层厚度测量 Permascope MPO / MPO-FP: 用于测量非铁磁性金属涂层。 铬，铜，锌，以及钢和铁上的油漆，清漆，搪瓷或塑料涂层。 （使用根据ISO 2178和ASTM D7091的磁感应法测量）。 该仪器特别适用于薄涂层的高精度测量。

菲希尔电导率仪SMP350 FS24探头 SIGMASCOPE® SMP350 根据涡流相位法DIN EN 2004-1 和 ASTM E 1004 测量电导率。 这种方法允许无接触测量，即使隔着油漆或者厚 500μm的塑料涂层，这种方法也几乎不受表面粗糙度的影响。

菲希尔SR-SCOPE RMP30-S印制电路板铜测厚仪 SR-SCOPE 的优势是利用电阻法测量不会受到其他层的影响，因此能够准确测定上层面铜层的厚度。主要应用于电路板上的铜镀层.探头包括：ERCU N 探头：0.1–10 μm 以及 5–120 μm和ERCU-D10 探头：0.1–10μm以及 5–200 μm。