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  • fischerscope x-ray xul xym上海

    更新时间:2021-01-14

    厂商性质:代理商

    fischerscopex-rayxulxym上海 FISCHERSCOPE®-X-RAYXUL是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光光谱仪,它结构紧凑,小巧耐用。它们十分适用于无损测量镀层厚度和成分分析。比例接收器能实现高计数率,这样就可以进行高精度测量。
  • 德国菲希尔fischer xdl-230镀层膜厚测试仪

    更新时间:2020-11-06

    厂商性质:代理商

    德国菲希尔fischerxdl-230镀层膜厚测试仪 FISCHERSCOPEX-RAYXDL230是一款用户界面友好的台式测量仪器。手动操作的X-Y工作台,马达驱动的Z轴系统。高分辨率的彩色视频摄像头具备强大的放大功能,可以准确定位测量位置。通过视频窗口,还可以实时观察测量过程和进度。测量箱底部的开槽是专为面积大而形状扁平的样品所设计
  • x射线镀层测厚仪_xdv-µ-pcb

    更新时间:2021-05-13

    厂商性质:代理商

    x射线镀层测厚仪_xdv-µ-pcb FISCHERSCOPEX-RAYXDV-μ测量系统拥有先进的多毛细孔X射线聚焦装置,既能有效地缩小测量点的面积,又能大幅加强射线的强度。仪器配备了大面积硅漂移探测器,特别适用于在小工件上测量非常薄镀层的厚度或者进行痕量分析。
  • XULM 240德国fischer膜厚仪 X射线荧光测厚仪

    更新时间:2020-09-17

    厂商性质:代理商

    德国fischer膜厚仪X射线荧光测厚仪 XULM特别适合测量细小的部件如连接器,触点或线,也可以测量印刷线路板上的Au,Ni和Cu镀层厚度。即使80nm的很薄的金镀层也可以用测量点为Ø0.25mm的准直器测量,20秒的重复精度可达2.5nm。
  • Fischer X-RAY XUV773 X射线荧光镀层测厚仪

    更新时间:2020-12-28

    厂商性质:代理商

    FischerX-RAYXUV773X射线荧光镀层测厚仪 FISCHERSCOPEX-RAYXUV仪器配有一个可抽真空的大型测量箱。其所装备的大面积硅漂移探测器能够探测低至1keV的荧光辐射能量,从而能够有效地测量元素Na、Mg以及元素Zn、Cu、Ni的L辐射。
  • Fischer XDAL237 X射线荧光测厚仪

    更新时间:2020-09-17

    厂商性质:代理商

    FischerXDAL237X射线荧光测厚仪 FISCHERSCOPEX-RAYXDAL型仪器的测量空间宽大,可以用于测量复杂几何形状的各种样品。马达驱动可调节的Z轴允许放置*高可达140mm高度的样品。C型槽设计可以方便地测量诸如印刷线路板等大平面样品。测量系统配有快速可编程的XY平台,因而可以方便地按照预定程序扫描检查样品表面
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