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Fischer XDAL237 X射线荧光测厚仪

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Fischer XDAL237 X射线荧光测厚仪
FISCHERSCOPE X-RAY XDAL型仪器的测量空间宽大,可以用于测量复杂几何形状的各种样品。马达驱动可调节的Z轴允许放置*高可达140mm高度的样品。C型槽设计可以方便地测量诸如印刷线路板等大平面样品。测量系统配有快速可编程的XY平台,因而可以方便地按照预定程序扫描检查样品表面

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Fischer XDAL237 X射线荧光测厚仪

X射线荧光测量仪,带有快速可编程的XY平台和Z轴,可自动测量薄涂层厚度和进行材料分析。在设计上,FISCHERSCOPE X-RAY XDAL型仪器和XDLM型仪器相对应。区别在于使用的探测器类型不同。在XDAL上,使用了帕尔贴制冷的硅PIN探测器,从而有了远好于XDLM使用的比例计数器的能量分辨率。因而,这台仪器适合于一般材料分析,痕量元素分析及测量薄镀层厚度。

FISCHERSCOPE X-RAY XDAL型仪器的测量空间宽大,可以用于测量复杂几何形状的各种样品。马达驱动可调节的Z轴允许放置*高可达140mm高度的样品。C型槽设计可以方便地测量诸如印刷线路板等大平面样品。测量系统配有快速可编程的XY平台,因而可以方便地按照预定程序扫描检查样品表面。此外,在如引线框架等样品上进行多点测量,或是在多个不同样品上进行批量测量,都可以通过快速编程自动化地完成。 X射线源是一个能产生很小光斑面积的微聚焦X射线管。然而,由于相对较小的探测器有效接收面积(相比较比例计数器探测器来说),信号强度低,故XDAL有限适用于极微小结构和测量点的测量。和XDLM类似,准直器和基本滤片是可自动切换,以便为不同测量程式创造*佳的激励条件。

主要特征:

▶带有铍窗口和钨钯的微聚焦X射线管。
*高工作条件: 50 kV, 50W
X射线探测器采用珀尔帖致冷的硅PIN二极管
▶准直器:4个,可自动切换,从直径Ø 0.1mm Ø 0.6 mm
▶基本滤片:3个,可自动切换
▶测量距离可在0—80mm范围内调节
▶可编程XY平台
▶视频摄像头可用来实时查看测量位置,十字线上有经过校准的刻度标尺,而测量点实际大小也在图像中显示。
▶设计获得许可,防护全面,符合德国X射线条例第4章第3

应用领域:

▶镀层与合金的材料分析(包括薄镀层以及低含量)。
▶来料检验,生产监控。
▶研发项目
▶电子行业
▶接插件和触点
▶黄金、珠宝及手表行业
▶测量印刷线路板上仅数个纳米的AuPd镀层
▶痕量分析
▶根据高可靠性要求测量铅Pb含量
▶分析硬质镀层材料

 

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笃挚仪器-优质成就价值: 我们经营各类物理测量仪器,是世界知名品牌的正规代理商和供应商,产品种类齐全,包括各种测量仪器及相关的各种配件,我们的产品覆盖常见的测量任务。 对于非标准测量,可以使用多种系统附件,以便对整个测量任务进行系统定制。询价,我们有专业的技术人员和多年的从业经验,可以提供根据您的具体要求为您提供量身定制的测量方案。

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