用于质量控制的库仑法镀层厚度测量仪 库仑法的成本效益高，可准确地替代X射线荧光法-前提是你可以接受一种破坏性的测量方法。它为您提供了很大的灵活性，因为它可以用于广泛的镀层组合。您可以使用库仑法测量镀层厚度，特别是在电镀镀层的质量控制中，以及用于监测印刷电路板上的残余纯锡厚度。

微电脑多功能电解式测厚仪菲希尔 Fischer菲希尔Couloscope CMS测厚仪（ 库仑测量系统）使用库仑方法测量镀层厚度。配备了一一个大的,易读取的液晶显示器,直观的菜单指引系统,该仪器理想的适用于测量几乎所有的金属基材或非金属基材上的金属镀层的厚度,包括多镀层。使用在不能进行或不需要进行非破坏性测试方法的场合。