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用于质量控制的库仑法镀层厚度测量仪

  • 更新时间:2025-05-27
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用于质量控制的库仑法镀层厚度测量仪
库仑法的成本效益高,可准确地替代X射线荧光法-前提是你可以接受一种破坏性的测量方法。它为您提供了很大的灵活性,因为它可以用于广泛的镀层组合。您可以使用库仑法测量镀层厚度,特别是在电镀镀层的质量控制中,以及用于监测印刷电路板上的残余纯锡厚度。

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品牌Helmut Fischer/德国菲希尔价格区间面议
产地类别进口应用领域化工,电子/电池,包装/造纸/印刷,航空航天,汽车及零部件
在镀层厚度测量领域,当 X 射线荧光无损测量在一定厚度以上达到时,COULOSCOPE®CMS2 便展现出其价值。它运用库仑法,能对多种金属镀层的厚度进行测量,这种方法本质上是一种较为简单的退镀处理。COULOSCOPE CMS2 可精准测定众多常见的单层和多层镀层,在质量控制环节发挥着关键作用。
库仑法具备显著的成本效益优势,在可接受破坏性测量的前提下,是 X 射线荧光法的精准替代方案。该方法适用范围广泛,可应对丰富多样的镀层组合,常用于电镀镀层的质量把控,以及监测印刷电路板上残余纯锡的厚度。
STEP 测试:镀层厚度与电化学电位的双重测量
若需在测量镀层厚度的同时获取电化学电势数据,COULOSCOPE CMS2 STEP 。其采用的 STEP 测试方法,能够同步测量多层镍镀层的电位差与镀层厚度,这一特性使其成为测定此类镀层腐蚀行为的理想工具。
产品特性
  1. 高精度测量:运用库仑法,实现多层金属镀层厚度的高精度测量。

  1. 标准合规:依据 DIN EN ISO 2177 标准开展测量工作。

  1. 操作便捷:通过彩色显示屏与图形化用户指南,操作直观易懂。

  1. 参数可调:可灵活选择电解速度(0.1 - 50 微米 / 分钟)和电解面积(0.6 - 3.2mm)。

  1. 预设应用丰富:针对不同镀层系统,如铁上镀锌、黄铜上镀镍等,预设近 100 种测量应用。

  1. 数据可视化:测量单元上实时显示电压曲线图形。

  1. 评估全面:支持图形化与统计化评估。

  1. 自动化适配:带支撑架的部分自动化测量,适配各类样品尺寸。

  1. 配件齐全:配备全面的配件组合,满足特定需求。

COULOSCOPE CMS2 STEP 附加功能
  1. 同步测量:可同时测量镀层厚度和电位差。

  1. 标准测试:依据 ASTM B764 - 04 和 DIN EN 16866 标准进行电位差测试。

  1. 电极处理:具备银参比电极测量前的准备功能(生成必要的 AgCl 层)。

  1. 电流调节:电解电流可按需调整。

  1. 即时评估:能直接在测厚仪显示器上对电位曲线进行评估。

应用领域
  1. 生产与检验:适用于电镀生产过程监控及成品进厂检验。

  1. 镀层厚度测量:可精准测量多种金属镀层厚度,范围在 0.05–50µm(因材料而异)。

  1. 镀层体系覆盖

  • 多镀层体系:例如铁或塑料基体(ABS)上的镀铬 / 镍 / 铜等多层镀层。

  • 双镀层体系:如银或铜表面的镀锡或镀镍。

  • 单镀层:像铁上镀锌等。

COULOSCOPE CMS2 STEP 额外应用
专为铜、铁、铝或塑料衬底(ABS)上的多层镍层系统设计的 STEP 测试,进一步拓展了其应用边界 。


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