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用于质量控制的库仑法镀层厚度测量仪

  • 更新时间:2022-03-14
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用于质量控制的库仑法镀层厚度测量仪
库仑法的成本效益高,可准确地替代X射线荧光法-前提是你可以接受一种破坏性的测量方法。它为您提供了很大的灵活性,因为它可以用于广泛的镀层组合。您可以使用库仑法测量镀层厚度,特别是在电镀镀层的质量控制中,以及用于监测印刷电路板上的残余纯锡厚度。

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品牌Fischer/德国菲希尔价格区间面议
产地类别进口应用领域化工,电子,印刷包装,航天,汽车

用于质量控制的库仑法镀层厚度测量仪

在一定的厚度以上,X射线荧光对镀层的无损测量达到了极限,这就是COULOSCOPE®CMS2发挥作用的地方。它用库仑法测量多种金属镀层的厚度,这是做相当简单的退镀处理。COULOSCOPE CMS2可以准确地测量许多常见的单层和多层镀层。用于质量控制的库仑法镀层厚度测量仪

库仑法的成本效益高,可准确地替代X射线荧光法-前提是你可以接受一种破坏性的测量方法。它为您提供了很大的灵活性,因为它可以用于广泛的镀层组合。您可以使用库仑法测量镀层厚度,特别是在电镀镀层的质量控制中,以及用于监测印刷电路板上的残余纯锡厚度。

STEP测试:库仑法测量镀层厚度和多层镍的电化学电位测量

如果你想在使用库仑法测量镀层厚度的同时测量电化学电势,那么COULOSCOPE CMS2 STEP就是你的选择。STEP测试方法可以同时测量多层镍镀层的电位差和镀层厚度,非常适合测定这些镀层的腐蚀行为。

特性

  • 高精度测量多层金属镀层的厚度(库仑法)

  • 根据DIN EN ISO 2177进行测量

  • 通过彩色显示屏和图形支持的用户指南直观地操作

  • 可轻松选择电解速度(0.1-50微米/分钟)和电解面积(0.6-3.2mm)

  • 针对不同镀层系统(如铁上镀锌或黄铜上镀镍)预先设定了近100种测量应用

  • 测量单元上电压曲线的图形显示

  • 图形和统计评估

  • 带支撑架的部分自动化测量,适用于各种样品尺寸

  • 全面的配件组合,以适应特定的要求

COULOSCOPE CMS2 STEP的附加功能

  • 同时测量镀层厚度和电位差

  • 根据ASTM B764 - 04和DIN EN 16866进行电位差测试

  • 银参比电极测量前的准备工作(产生必要的AgCl层)

  • 电解电流可调整

  • 可直接在测厚仪显示器上评估电位曲线

应用

  • 电镀生产过程中的监控和成品的进厂检验

  • 可以准确测量多种金属镀层的厚度0.05–50µm(根据材料不同)

  • 金属和非金属基材上单层和多层镀层厚度的测量

  • 多镀层体系:例如在铁或塑料基体(ABS)上镀铬/镍/铜等多层镀层

  • 双镀层体系:例如银或铜上面镀锡或镀镍

  • 单镀层如铁上镀锌

COULOSCOPE CMS2 STEP的额外应用

  • STEP测试:在铜、铁、铝或塑料衬底(ABS)上的多层镍层系统

笃挚仪器(上海)有限公司拥有源自美国、英国、德国等多地区的合作伙伴,凭借种类齐全的产品资源和服务,涵盖光学仪器、测量仪器、无损检测、实验仪器、分析仪器、量具量仪等各类检测设备,努力为客户解决日新月异的测量分析技术挑战,共同提供定制化精密测量和性能分析系统解决方案,有效推动企业实现既定目标。

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