菲希尔X射线荧光测厚仪XDAL230高精度涂层厚度测量、复杂材料成分分析以及电镀溶液检测而设计。该设备结合了手动操作的灵活性与电动调节的精准性，在无损检测的前提下，为工业质量控制、进料检验和生产流程监控提供了可靠的技术支持。

Name: 菲希尔X射线荧光测厚仪XDAL230
Brand: Helmut Fischer/德国菲希尔
Availability: InStock

立即咨询

联系电话：021-58951071

产品详情

菲希尔X射线荧光测厚仪XDAL230

高精度涂层厚度测量、复杂材料成分分析以及电镀溶液检测而设计。该设备结合了手动操作的灵活性与电动调节的精准性，在无损检测的前提下，为工业质量控制、进料检验和生产流程监控提供了可靠的技术支持。

X射线源与探测器：配备带铍窗口的德国原装钨靶X射线管，高压支持30kV、40kV、50kV三档可调，使用寿命较上一代提升40%以上。探测器采用高分辨率比例计数器（PC），能量分辨率高且计数率稳定，确保了快速且精准的测量。

DCM测量距离补偿技术：采用DCM（Distance Compensation Method）技术，可在0-80mm范围内自动补偿距离变化对精度的影响，适应腔体零件及复杂形状样品的远距离对焦测量。

精密样品定位系统：配备手动X/Y工作台与马达驱动的Z轴升降系统，移动范围大，可适配不同高度的样品。同时搭载高分辨率CCD彩色摄像头（40-160倍放大）与激光定位辅助，最小测量光斑直径可达约0.2mm，轻松应对微小零件的局部分析。

无标样基本参数法（FP法）：内置12种纯元素频谱库，无需标准片即可进行镀层系统和固体/液体样品的测量分析，元素覆盖范围从氯（Cl, 17）至铀（U, 92），最多可同时测定24种元素及23层镀层。

在线咨询

返回列表