Fischer XDAL237 X射线荧光测厚仪 FISCHERSCOPE X-RAY XDAL型仪器的测量空间宽大，可以用于测量复杂几何形状的各种样品。马达驱动可调节的Z轴允许放置*高可达140mm高度的样品。C型槽设计可以方便地测量诸如印刷线路板等大平面样品。测量系统配有快速可编程的XY平台，因而可以方便地按照预定程序扫描检查样品表面

菲希尔x射线镀层测厚仪fischer xdv-sdd FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD型仪器配备了感应区域大而分辨率良好的硅漂移接收器，这样在使用大准直器的情况下，可以达到很高的计数率，从而实现良好的重复精度和很低的检测下限。XDV-SDD非常适合痕量分析中非常薄镀层的测量。

X-RAY XUL/XULM电镀或电子元件镀层测厚仪 在电镀或电子元件生产过程中需要快速且准确地测定镀层厚度时，XUL® 系列测量仪器是您的*选解决方案。X 射线荧光仪器可自下而上进行测量，能够在测量台上对样品进行轻松定位。该系列的所有 X 射线仪器均配备相同的探测器。您可以根据自己的测量需求选择不同的准直器、滤波器以及 X 射线管。