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菲希尔X-RAY X射线荧光镀层测厚仪

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菲希尔X-RAY X射线荧光镀层测厚仪
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它非常适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析,同时还能检测大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层。

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 菲希尔X-RAY X射线荧光镀层测厚仪

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它非常适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析,同时还能检测大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层。XDL230有着良好的长期稳定性,这样就不需要经常校准仪器。比例接收器能实现高计数率,这样就可以进行高精度测量。由于采用了FISCHER完全基本参数法,因此无论是对镀层系统还是对固体和液体样品,仪器都能在没有标准片的情况下进行测量和分析。XDL 230特别适用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控。

配备了可编程XY工作台的版本的XDL系列仪器可用于自动化系列测试。它可以很方便地扫描表面,这样就可以检查其均匀性。为了简单快速定位样品,当测量门开启时,XY工作台自动移动到加载位置,同时激光点指示测量点位置。对于大而平整的样品,例如线路板,壳体在侧面有开口(C形槽)。由于测量室空间很大,样品放置方便,仪器不仅可以测量平面平整的物体,也可以测量形状复杂的大样品(样品高度可达140mm)。Z轴可电动调整的仪器,测量距离还可以在0 – 80 mm的范围内自由选择,这样就可以测量腔体内部或表面不平整的物体(DCM方法)

测量方向,镀层厚度和材料分析

 

电镀液成份分析Cu, Ni, Au (g/l)

PCB 装配: 含铅量测试

 

设计理念

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款用户界面友好的台式测量仪器。手动操作的X-Y工作台,马达驱动的Z轴系统。高分辨率的彩色视频摄像头具备强大的放大功能,可以准确定位测量位置。通过视频窗口,还可以实时观察测量过程和进度。测量箱底部的开槽是专为面积大而形状扁平的样品所设计,由此仪器就可以测量比测量箱更长和更宽的样品。例如:大型的印制电路板。带有放大功能和十字线的集成视频显微镜简化了样品摆放,并且允许测量点的准确调整。所有的仪器操作,以及测量数据的计算和测量数据报表的清晰显示,都可以通过功能强大而界面友好的WinFTM®软件在电脑上完成。XDL型镀层测厚及材料分析仪作为受完全保护的仪器,型式许可完全符合德国“Deutsche Röntgenverordnung-RöV”法规的规定。

主要特征:
带玻璃窗口和钨靶的X射线管或带铍窗口和钨靶的微聚焦X射线管。
*高工作条件:50KV,50W
X射线探测器采用比例接收器
准直器:固定或4个自动切换,0.05 x0.05 mm 到 Ø 0.3 mm
基本滤片:固定或3个自动切换
测量距离可在0-80 mm范围内调整
固定样品支撑台 ,手动XY工作台
摄像头用来查看基本射线轴向方向的测量位置。
设计获得许可,防护全面,符合德国X射线条例第4章第3节

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