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更新时间：2026-10-20 
浏览次数：7菲希尔X荧光射线测厚仪 XDL230
菲希尔 FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230 是一款台式能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪，适用于电镀层、功能性镀层、多层镀层及材料成分的无损测量与分析。它采用 X 射线荧光光谱法，结合菲希尔基本参数法，可在多数情况下减少对标片的依赖，适合电镀、电子、汽车、航空航天、医疗及珠宝等行业的质量控制、进料检验和工艺监控。
无损检测：X 射线荧光法不破坏样品，可对成品、半成品及液体样品进行检测。
无标样分析能力：基于基本参数法，内置纯元素频谱库，许多镀层体系无需标准片即可直接测量。
复杂样品适应性强：配备 DCM 测量距离补偿法，测量距离可达 0–80 mm，适合凹槽、腔体、不规则工件等样品。
精准定位：高分辨率 CCD 彩色摄像头配合激光辅助定位，可清晰观察测量区域，满足微小镀层检测需求。
长期稳定性好：比例接收器与稳定的 X 射线源设计，有助于降低频繁校准带来的使用成本。
操作简便：通过 WinFTM 软件完成测量、数据统计、报告生成等流程，界面直观，便于日常质控管理。
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