X-RAY XAN310荧光射线材料分析及镀层测厚仪

• 更新时间：2020-09-21
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X-RAY XAN310荧光射线材料分析及镀层测厚仪
FISCHERSCOPEB X-RAY XAN 310高性价比的紧凑入门级X射线荧光材料分析及镀层测厚仪，用于快速、无损分析镀层厚度及合金成分FISCHERSCOPE X-RAY XAN 310是一款X射线荧光材料分析及镀层测厚仪，特别适用于基本镀层厚度及合金成分的无损分析。

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X-RAY XAN310荧光射线材料分析及镀层测厚仪

 FISCHERSCOPEB X-RAY XAN 310高性价比的紧凑入门级X射线荧光材料分析及镀层测厚仪，用于快速、无损分析镀层厚度及合金成分FISCHERSCOPE X-RAY XAN 310是一款X射线荧光材料分析及镀层测厚仪，特别适用于基本镀层厚度及合金成分的无损分析。XAN310可以快速分析成分并用克拉显示测量值，重量%或%o,其他合金成分也会同时得出。        FISCHERSCOPE@-X-RAY系统有着出色的准确性和良好的长期稳定性，这样就不需要经常校准仪器，节省时间和精力。由于采用了基本参数法，无论是镀层系统还是固体和液体样品，都能在没有标准片的情况下进行分析和测量。

设计理念：

XAN 310是一款用户界面友好的台式测量仪器。紧凑型的设计使仪器轻量化并且只需要很小的空间。测量室的门并不是向上打开，而是向前。因此可以使用笔记本放置在仪器_上方进行操作，来节省更多的空间。样品定位简单便捷。X射线源和接收器都集成在仪器底部舱室中，因而样品的底部是实际被测量面，而样品本身则由一层透明的薄膜窗口托放在测量室中。
内置可变焦视频系统和定位十字线，可以方便、准确地定位测量位置。通过功能强大、界面友好的WinFTM@软件，可以在计算机上便捷地完成整个测量过程，以及测量结果的数据分析和所有相关信息的显示等。FISCHERSCOPE X-RAY XAN*DIN ISO 3497标准和ASTM B 568标准。

典型应用领域 ✔ 珠宝和手表行业金和贵金属分析 ✔ 测量几个纳米的超薄镀层，如印刷线路板和电子元件上的Au和Pd。 ✔ 痕量分析（如电子元件(RoHS)或工具中的有害物质） ✔ 用XAN 150分析诸如Al，Si，P等轻元素 ✔ 实验室，测试机构和大学里一般性的材料分析和镀层厚度测量

笃挚仪器（上海）有限公司的产品和系统方案广泛应用于大中型国有企业、汽车制造业、精密机械、模具加工、电子电力、铸造冶金、航空航天、工程建筑、大专院校等研究实验室和生产线、质量控制和教育事业，用于评价材料、部件及结构的几何特征和理化性能，推动着先进制造技术的精益求精。

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