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X射线荧光镀层测厚及材料分析仪XDL-230

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X射线荧光镀层测厚及材料分析仪XDL-230
X射线荧光镀层测厚及材料分析仪,采用手动方式,测量和分析印刷电路板、防护及装饰性镀层及大规模生产的零部件上的镀层。德国菲希尔X射线膜厚仪FISCHERSCOPE® X-RAY XDL 210/220/230//240

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X射线荧光镀层测厚及材料分析仪,采用手动方式,测量和分析印刷电路板、防护及装饰性镀层及大规模生产的零部件上的镀层。德国菲希尔X射线膜厚仪FISCHERSCOPE® X-RAY XDL 210/220/230//240

X射线镀层测厚仪简介:
德国菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE® X-RAY XDL 210/220/230/240是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它非常适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析,同时还能检测大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层。
德国菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE® X-RAY XDL210/220/230/240特别适用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控。
德国菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE® X-RAY XDL 210/220/230/240典型的应用领域有:

• 测量大规模生产的电镀部件
• 测量超薄镀层,例如:装饰铬
• 测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层
• 测量印刷线路板
• 分析电镀溶液
XDL230有着良好的长期稳定性,这样就不需要经常校准仪器。比例接收器能实现高计数率,这样就可以进行高精度测量。
由于采用了FISCHER完全基本参数法,因此无论是对镀层系统还是对固体和液体样品,仪器都能在没有标准片的情况下进行测量和分析。

设计理念:
德国菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE® X-RAY XDL 210/220/230/240是一款用户界面友好的台式测量仪器。手动操作的X-Y工作台,马达驱动的Z轴系统。
高分辨率的彩色视频摄像头具备强大的放大功能,可以准确定位测量位置。通过视频窗口,还可以实时观察测量过程和进度。
测量箱底部的开槽是专为面积大而形状扁平的样品所设计,由此仪器就可以测量比测量箱更长和更宽的样品。例如:大型的印制电路板。
带有放大功能和十字线的集成视频显微镜简化了样品摆放,并且允许测量点的准确调整。
所有的仪器操作,以及测量数据的计算和测量数据报表的清晰显示,都可以通过功能强大而界面友好的WinFTM®软件在电脑上完成。
XDL型镀层测厚及材料分析仪作为受完全保护的仪器,型式许可完全符合德国“Deutsche Röntgenverordnung-RöV”法规的规定。

通用规格
设计用途:能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪 (EDXRF), 用于测定超薄镀层和溶液分析。
元素范围:从元素 氯(17) 到 铀(92) 配有可选的WinFTM® BASIC软件时,最多可同时测定24种元素
设计理念:台式仪器,测量门向上开启
测量方向:由上往下

X射线源
X射线管:带铍窗口的钨管
高压:  三档: 30 kV,40 kV,50 kV
孔径(准直器): Ø 0.3 mm 可选:Ø 0.1 mm; Ø 0.2 mm;长方形0.3 mm x 0.05 mm
测量点尺寸:取决于测量距离及使用的准直器大小, 实际的测量点大小与视频窗口中显示的* 最小的测量点大小约Ø 0.2mm

X射线探测
X射线接收器:测量距离
比例接收器:0 ~ 80 mm,使用**保护的DCM测量距离补偿法

样品定位
视频系统:高分辨率CCD彩色摄像头,沿着初级X射线光束方向观察测量位置 手动聚焦,对被测位置进行监控十字线(带有经过校准的刻度和测量点尺寸) 可调节亮度的LED照明,激光光点用于准确定位样品
放大倍数:40x – 160x

电气参数
电源要求:220 V ,50 Hz
功率:最大 120 W (不包括计算机)
保护等级:IP40

尺寸规格
外部尺寸:宽×深×高[mm]:570×760×650
内部测量室尺寸:宽×深×高[mm]:460×495x(参考“样品最大高度”部分的说明)
重量:107 kg

环境要求
使用时温度:10°C – 40°C
存储或运输时温度:0°C – 50°C
空气相对湿度:≤ 95 %,无结露

工作台
设计:手动X/Y平台
X/Y平台最大移动范围:95 x 150 mm
可用样品放置区域:420 x 450 mm
Z轴:马达驱动
Z轴移动范围:140 mm
样品最大重量:20kg
样品最大高度:140 mm
激光(1级)定位点:有

计算单元
计算机:带扩展卡的Windows®计算机系统
软件  标准: WinFTM® V.6 LIGHT
 

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