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Surtronic DUO粗糙度仪表面粗糙度理论的新进展

更新时间:2017-11-20   点击次数:1080次
  Surtronic DUO粗糙度仪是一款*符合ISO标准的新产品,是评定零件表面质量的多用途便携式仪器,具有符合多个标准和标准的多个参数,可对多种零件表面的粗糙度、波纹度和原始轮廓进行多参数评定,可测量平面、外圆柱面、内孔表面等。
  Surtronic DUO粗糙度仪在Win操作系统下界面十分友好稳定。测量软件符合粗糙度定义,可高精度的工作;使用简单方便,能在计算机内贮存测量结果、数据、图形;编辑统计平均值等测量数据,便于网络传输。
  随着工业的发展和对外开放与技术合作的需要,我国对表面粗糙度的研究和标准化愈来愈被科技和工业界所重视,为迅速改变国内表面粗糙度方面的术语和概念不统一的局面,并达到与统一的作用,我国等效采用标准化组织(ISO)有关的标准制订了GB《表面粗糙度术语表面及其参数》。专门对有关表面粗糙度的表面及其参数等术语作了规定,其中有三个部分共27个参数术语:与微观不平度高度特性有关的表面粗糙度参数术语。其中定义的常用术语为:轮廓算术平均偏差Ra、轮廓均方根偏差Rq、轮廓zui大高度Ry和微观不平度十点高度Rz等11个参数。
  Surtronic DUO粗糙度仪表面形貌评定的核心在于特征信号的无失真提取和对使用性能的量化评定,国内外学者在这一方面做了大量工作,提出了许多分离与重构方法。随着当今微机处理技术、集成电路技术、机电一体化技术等的发展,出现了用分形法、Motif法、功能参数集法、时间序列技术分析法、zui小二乘多项式拟合法、滤波法等各种评定理论与方法,取得了显著进展。

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