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技术支持

菲希尔x-ray设备-您可信赖的知识、能力和经验

更新时间:2020-06-22   点击次数:1120次
从1953年至今,菲希尔公司不断地在涂镀层测
厚、材料分析、微硬度测量和材料测试领域发
展出创新型的测量技术。如今,菲希尔的测量技
术已在世界各地得到应用,满足客户对仪器准确
度、精度和可靠性的要求。
作为在生产测量中使用X射线荧光法的,菲
希尔很早就意识到此方法在镀层厚度测量和材料
分析领域的巨大潜力,因而开始研发和制造工业
级耐用的测量仪器。*一台菲希尔X射线仪器在
二十世纪八十年代初就已面世。
从那时起,菲希尔不断改进和研发X射线荧光技
术,使得该项技术在今天居于**地位。其中的
一个例子是透明的狭缝设计,从而使用户可以与
基本射线同方向查看样品。另外,打开仪器舱门
自动弹出测量平台(“弹出功能”)也是*次由
菲希尔实现的。在软件方面,菲希尔是*个使用
*基本参数法来计算光谱的公司。
菲希尔在生产过程实行严格的质量标准控制,在
对零部件进行苛刻的检验,确保菲希尔X射线仪
器有着很高的高可靠性。
目前,有超过10000台X射线仪器投入使
用,而FISCHERSCOPE® X-RAY品牌也已成为强
大,可靠和耐用的X射线荧光测量设备的代名词
的工业制造和科学研究都依赖于这些可靠且
精确的仪器设备。菲希尔一贯以持续的研发、先
进的设备和创新的软件来迎接挑战。因为只有经
过精心构思设计和按照高标准制造的产品,终
才能有很好的工作性能。也只有这样的产品才能
配得上菲希尔的品牌。菲希尔是您可信赖的品
牌。

X射线荧光分析法 (XRFA)

能量散射X射线荧光光谱法(EDXRF)作为镀层
厚度测量和材料分析的方法,可用来定量和定性
分析样品的元素组成,也可用于镀层和镀层系统
的厚度测量。无论是在实验室还是工业生产环境
中,这一方法都能完美胜任,并还可以与现代化
设备一起发挥作用。

EDXRF作为一种常用测试方法,有着其突出的优
势。它几乎可以测量所有工艺相关元素,并且工
作时无损且不接触样品。测量时间一般在数秒钟
内,很少多于一分钟。通常不需要复制的样品制
备,即可进行快速测量。利用该方法,可以同时
测量均质材料及镀层的厚度和化学成分。不仅如
此,EDXRF方法检测各种类型样品里的微量有害
物质。
此外,X射线荧光分析是一种清洁的测量方法,
测量过程不使用任何化学制品。由于有着合理精
巧的设计,X射线不会对操作人员和环境构成任
何威胁:菲希尔X射线仪器是安全可靠的。

 

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