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技术支持

粗糙度仪测试时有关基准线的概念理解

更新时间:2021-12-22   点击次数:778次
   Mitutoyo粗糙度仪配有高精度电感传感器,可测量显示多个粗糙度参数。采用DSP(数字信号处理器)进行数据处理和控制,速度快,功耗低。机电一体化设计,体积小,重量轻,使用方便。高品质锂离子充电电池,容量高,无记忆效应,连续工作大于20小时。连接打印机,可以打印测量参数及轮廓,标准RS232接口,可与PC机通讯。可选配曲面传感器测量凹凸面,小孔传感器测量内孔粗糙度,流行的菜单操作方式,具有图形显示功能。传感器触针位置指示,带存储功能的自动关机。
  我们一般评价粗糙度会有基准线,基准线以上最高点叫波峰点,基准线以下低点叫波谷点,那么波峰和波谷之间的高度我们用Z来表示,加工产品的微观纹理的间距我们用S来表示。
  通常情况下S值的大小在国家检定标准里给了相关的定义:S<1mm定义为表面粗糙度1S10mm定义为表面波纹度。
  表面粗糙度中的评价长度是由N个基准长度所构成。零部件表面各部分的表面粗糙度,在一个基准长度上无法真实地体现出粗糙度真实参数,而是需要取N个取样长度来评定表面粗糙度。在ISO 1997标准下评定长度一般为N等于5。
  基准线是评定粗糙度参数的轮廓中线。一般有最小二乘法中线和轮廓算术平均中线。最小二乘法中线是把测量过程中采集的点进行最小二乘法计算。轮廓算术平均中线在取样长度内,使中线上下两部分轮廓的面积相等。
  理论上最小二乘中线是理想的基准线,但在实际应用中很难获得,因此一般用轮廓的算术平均中线代替,且测量时可用一根位置近似的直线进行代替使用。

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