Surtronic DUO 英国泰勒霍普森粗糙度仪信息

Surtronic DUO粗糙度仪通过采用耐磨的金刚石测针部件，以及精密的机动驱动装置，确保测针在被测表面行进正确的水平距离。当测针划过波峰和波谷时，高感应度的压电传感器能敏锐地检测到它的垂直移动，并将这种机械移动迅速转化为电子信号。电子信号随后进行数字化处理并发送到微处理器，微处理器运用标准化算法即时计算出表面粗糙度参数，为用户提供精准的测量数据。

Surtronic DUO粗糙度仪可一键测量多种粗糙度参数，如 Ra、Rz、Rp、Rv、Rt、Rz1max、Rsk、Rq、Rku、Pa、Pz、Pp、Pv、Pt 等，符合 ISO 4287 标准，能充分满足不同用户在各类复杂场景下对表面粗糙度测量的多样化需求。