产品分类

products category

技术文章/ article

您的位置:首页  -  技术文章  -  泰勒霍普森粗糙度仪小型分体式DUO信息

泰勒霍普森粗糙度仪小型分体式DUO信息

更新时间:2025-09-29      浏览次数:501

Surtronic Duo 是泰勒·霍普森(Taylor Hobson)公司推出的一款小巧便携、操作简便的表面粗糙度测量仪。它延续了品牌一贯的简约设计风格,适用于各种现场检测环境。

只需按下测量按钮,Surtronic Duo 即可在约5秒内完成测量,并在大尺寸LCD屏幕上清晰显示Ra值。测量结果将持续保留在屏幕上,直至下一次测量开始。除Ra外,该设备还可测量并显示Rz、Rp、Rv和Rt等多种粗糙度参数,并支持在公制(μm)与英制(μin)单位之间自由切换,无需重新测量工件。

Surtronic Duo 采用高精度金刚石测针,在驱动机构的控制下轻柔划过被测表面。测针随表面轮廓上下移动时,压电传感器将微小位移转化为电信号,再由内置计算单元进行标准化处理,最终输出精确的粗糙度数据。

该仪器无需安装软件或进行复杂编程,开箱即用,操作简单直观。内置电池可支持至少5000次测量,续航持久。其分体式设计便于携带与放置,可灵活应用于各种检测位置,是现场快速粗糙度评估的理想工具。


版权所有©2026 笃挚仪器(上海)有限公司 All Rights Reserved   备案号:沪ICP备16027846号-1   sitemap.xml   技术支持:化工仪器网   管理登陆