Surtronic S116 粗糙度仪表面光洁测量信息

Surtronic S116 粗糙度仪

Surtronic S116是泰勒霍普森实验室和质量控制中心推出的粗糙度仪。该仪器采用高刚性花岗岩基座与精密导轨系统，确保测量过程中的稳定性，垂直分辨率可达0.1 nm，行程长度达16 mm，满足最严苛的表面评估需求。S116支持全自动测量流程，包括自动校准、自动定位、多点测量与统计分析，兼容ISO、ASME、JIS等多种国际标准。其配套的TalyProfile软件提供强大的数据处理能力，可生成3D轮廓图、频谱分析、滤波曲线及定制化报告。设备还配备电动升降Z轴和可编程X轴驱动，实现无人值守批量检测。Surtronic S116广泛应用于半导体、医疗器械、精密轴承和科研领域，是追求高重复性、高精度表面粗糙度分析用户的理想选择。