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泰勒霍普森PGI相位轮廓仪信息

更新时间:2026-07-07      浏览次数:26
PGI(相位光栅干涉)系列是泰勒霍普森的高精度测量系统,专为需要精度的研发、计量室及精密光学制造而设计215。该系列包含多个细分型号:
  • PGI Optics PRO(光学测量):

    • 专为精密光学测量打造,最大测量口径可达 300 mm(一次测量,无需拼接)。

    • 采用专有 PGI 技术,结合短测针、高刚度和小测力,轻松测量大矢高工件及柔软表面。

    • 支持球面、非球面、衍射面和菲涅尔面透镜的高精度测量。

    • 全新 Freeform 模块提供自由曲面光学元件的 3D 光栅测量与分析2。

  • PGI Freeform(自由曲面测量):

    • 采用栅式/径向扫描方式进行三维光栅及径向分析。

    • 可测量环面、双锥面、合成非球面、椭球面、NURBS 样条曲面等复杂曲面。

    • 测针测量范围可达 28 mm,分辨率高达 0.8 nm,测量角度达 50°,面型误差小于 150 nm613。

  • PGI NOVUS(综合高精度测量):

    • 拥有行业 20 mm 量具量程和 0.2 nm 分辨率。

    • 能够以相同的速度和精度,在正向和反向方向测量表面光洁度、直径和夹角。

    • 是轴承、喷油器、航空发动机叶片等精密部件制造商的理想解决方案810。

  • PGI Dimension(超高精度光学测量):

    • 形状测量重复性典型值 <50 nm。

    • 边缘测量角度可达 85°,测量直径超过 200 mm(矢高 <20 mm)。

    • 具备全自动调心调平功能及非球面分析软件,支持未知表面逆推系数分析1214


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