Surtronic DUO粗糙度精密测量仪信息

更新时间：2026-09-28

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精准测量性能是Surtronic Duo的核心竞争力。该设备搭载泰勒霍普森自研的高精度传感检测系统，采用带滑行底座的测量结构，以工件表面为测量基准，无需复杂调平操作，既能有效抵消现场轻微振动带来的检测误差，又能保障测量轨迹平稳规整，从硬件层面筑牢数据精准度基础。设备可一键检测Ra、Rz、Rp、Rv、Rt、Rsk、Rq、Rku等全维度主流粗糙度参数，全面覆盖国内外工业检测标准需求，数秒内即可完成单次测量并生成完整数据及轮廓图谱，测量数据稳定、重复性高，满足精密零件、抛光工件、精密模具等高精度产品的检测要求，杜绝数据偏差导致的品质误判。

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