什么会影响Magna-Mike 8600霍尔效应测厚仪精度

典型的范围和精度
下图显示了标准目标的典型范围和准确性。 更大的目标通常可以提供更大的测量范围以及较薄测量的*精度。 选择目标时应考虑以下因素：

材料的zui小曲率
zui大厚度测量
测量所需的精度
材料的压缩性（较大或磁珠会压缩材料，然后较小或无磁性靶球）
表面硬度：磁性目标球不会像滚动的非磁性靶球一样沿着表面滑动。 使用磁珠时，用户要小心，确保材料表面不会被磁性目标球划伤。
一般来说，通过使用在测试件中自由移动的zui大目标球，将获得的结果。

校准：霍尔效应仪器必须在使用前进行校准，使用与测量相同的探头和靶标。这是通过无目标的读数来实现的，目标接触探针（零厚度），并在两个或更多个参考厚度。这允许仪器产生一个校准表，其中绘制电压变化与厚度的关系。校准将每个使用的目标与本机的内存查找表进行匹配。校准还可以测量目标可能位置的两个极值（“球开”和“球关”），并将这些端点分配给查找表。已知厚度的附加校准点用于微调表格以获得*精度。在操作过程中，每当探头方向或环境温度变化时，应进行校准。

MagnaMike 8600图示目标球的自由运动：由于霍尔效应测量仪测量探头和目标之间的距离，球的几何阻塞将导致不准确的测量。类似地，探针必须与部件紧密接触。当表面几何形状限制接触面积时，应使用凿点磨损帽。

附近的磁性物体和磁场：探头不应用于铁质材料，如碳钢长凳，货架，支架，支架，手表或首饰，或靠近电动机或类似的电磁干扰源。它应该保持至少8英寸（200毫米）从电脑。所有这些都会影响探头的磁场，导致不准确的测量。当测量每个目标类型的zui大厚度附近时，这一点尤为重要。

探测方向：由于Magna-Mike 8600通过监测磁场的小变化来测量厚度，其校准过程包括对地球磁场的影响的自动补偿。zui常见的是，探针以一个恒定的方向被保持在一个立场上。然而，在探针以不同的方向（例如水平保持）使用的情况下，或者当在扫描弯曲部分的外部方向改变时，必须更新校准。在Magna-Mike 8600中，Q-Cal功能用于进行此更正。当测量每个目标类型的zui大厚度附近时，这一点尤为重要。只需移除目标物并按住Q-Cal键，同时将探头保持在所需的方向。

粗糙或垂直的测试表面：当探头被扫描时，表面粗糙度或凹槽可导致目标球暂时挂起，从而增加表观厚度。当使用探头测量水平方向的垂直表面时，重力会导致目标球从探头的中心线掉落。在这些情况下，MIN Capture模式应用于确保真实zui小厚度的测量。

导线目标：使用导线目标时，探针必须至少距离导线末端1英寸（25毫米）。在测量点，必须将电线牢固地按压在测试片上，因为与任何其他目标一样，麦格纳 - 迈克实际上正在测量与目标的距离，而不是直径的壁厚。必须保持探针和导线之间的角度对准（通常是垂直的），因为导线倾斜会影响读数。电线目标不应扭曲或弯曲。

介绍：奥林巴斯Magna-Mike 8600霍尔效应测厚仪是小型，轻便的仪器，旨在对非磁性材料（如塑料，玻璃，复合材料，铝和钛）进行快速，准确和可重复的测量。奥林巴斯Magna-Mike 8600提供两种类型的探头，两种类型的耐磨帽和四种类型的目标，以适应一系列厚度以及各种各样的试样几何形状。探头类型 - 直角和直角探头可用。 在探头架上垂直固定的直式探头zui常用于台面检查。 直角探头设计用于部件几何形状限制访问的情况，如在涉及有色铸件的一些测试中。